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任利平

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:重庆光电技术研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇载流子
  • 1篇增强型
  • 1篇热载流子
  • 1篇热载流子效应
  • 1篇响应度
  • 1篇光电
  • 1篇光电二极管
  • 1篇硅基
  • 1篇二极管
  • 1篇放大器
  • 1篇暗电流
  • 1篇PIN光电二...
  • 1篇BCCD
  • 1篇CCD

机构

  • 3篇重庆光电技术...

作者

  • 3篇任利平
  • 2篇汪凌
  • 2篇廖晓航
  • 1篇黄烈云
  • 1篇苏玉棉
  • 1篇程顺昌
  • 1篇韩恒利
  • 1篇唐利
  • 1篇柳益
  • 1篇岳志强

传媒

  • 1篇电子科技
  • 1篇半导体光电
  • 1篇集成电路应用

年份

  • 1篇2021
  • 1篇2014
  • 1篇2011
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
BCCD沟道电势直流测试方法研究
2011年
提出了一种对BCCD(埋沟电荷耦合器件)沟道电势的直流测试方法,并对此进行了理论分析和实验研究,该方法能快速、准确地进行BCCD沟道电势测试,确定BCCD随栅压变化的沟道电势曲线。实验结果表明,选取宽长比为11/5的NMOS管、源电流为0.01μA的测试条件,能够很好地模拟BCCD的工作状态。通过对1 024×1 024可见光BCCD进行验证测试,证实该方法可靠。
汪凌韩恒利任利平廖晓航柳益苏玉棉岳志强
关键词:BCCD
热载流子效应对CCD片上放大器寿命的影响被引量:1
2014年
针对CCD片上放大器的寿命进行了研究。通过设计独立的MOSFET,使用衬底电流模型进行热载流子效应分析,研究其特性参数Gm退化量与退化时间关系,由此评价组成CCD片上放大器的寿命。研究结果表明,CCD片上放大器寿命随着栅长的减小而降低,制作LDD结构可提高CCD片上放大器寿命。
汪凌唐利廖晓航任利平
关键词:CCD放大器热载流子效应
硅基紫外增强型光电二极管的研制
2021年
详细介绍了器件结构设计和制作工艺,描述了采用低能离子注入、高温快速热处理等工艺技术,研制出高性能硅基紫外增强型PIN光电二极管。对器件暗电流和光谱特性等进行了测试分析。实验结果表明,探测器暗电流小于1.0nA(V_(R)=100V),响应度达到0.13A/W(λ=250nm),响应时间约5.5ns(V_(R)=15V),量子效率在波长220~360nm范围内达到50%~70%。
黄烈云程顺昌刘钟远向荣珍龙雨霞任利平
关键词:PIN光电二极管暗电流响应度
共1页<1>
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