2024年12月22日
星期日
|
欢迎来到维普•公共文化服务平台
登录
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
王迎
作品数:
2
被引量:0
H指数:0
供职机构:
华北光电技术研究所
更多>>
相关领域:
电子电信
更多>>
合作作者
董瑞清
华北光电技术研究所
周立庆
华北光电技术研究所
刘兴新
华北光电技术研究所
桂春辉
华北光电技术研究所
胡增辉
华北光电技术研究所
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
2篇
国内会议论文
领域
2篇
电子电信
主题
2篇
液相外延
2篇
碲镉汞
1篇
液相外延技术
1篇
探测器
1篇
碲镉汞薄膜
1篇
碲镉汞材料
1篇
位错
1篇
位错密度
1篇
温区
1篇
红外
1篇
红外探测
1篇
红外探测器
1篇
EPD
1篇
衬底
机构
2篇
华北光电技术...
作者
2篇
刘兴新
2篇
周立庆
2篇
王迎
2篇
董瑞清
1篇
王金义
1篇
胡增辉
1篇
桂春辉
传媒
1篇
2002年全...
1篇
2003年全...
年份
1篇
2003
1篇
2002
共
2
条 记 录,以下是 1-2
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
单温区碲镉汞液相外延技术的研究
采用单温区碲化汞补偿相外延法,通过液相延舟的设计、温度参数和氢气流量的选择,在碲锌镉衬义上成功外延出碲匐汞液相外延膜.液相外延膜的组份均匀性、表面形貌、X光形貌和电性能参数均较好.
周立庆
刘兴新
王金义
董瑞清
王迎
胡增辉
关键词:
碲镉汞薄膜
液相外延
红外探测器
文献传递
用于碲镉汞液相外延的碲锌镉衬底位错密度的研究
平均位错密度(EPD)是评价晶体质量的重要指标之一,衬底的位错密度直接影响到外延膜的位错密度,进而影响到器件的性能.
董瑞清
周立庆
刘兴新
王迎
桂春辉
关键词:
液相外延
衬底
碲镉汞材料
文献传递
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张