您的位置： 专家智库 > >

康耀辉

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

领域

  • 6个电子电信
  • 1个金属学及工艺
  • 1个自动化与计算...
  • 1个医药卫生
  • 1个自然科学总论
  • 1个理学

主题

  • 5个在片测试
  • 4个离散数据
  • 4个半导体
  • 3个电极
  • 3个电路
  • 2个单片
  • 2个单片电路
  • 2个电子迁移率
  • 2个电子输运
  • 2个多功能芯片
  • 2个形貌
  • 2个形貌结构
  • 2个掩膜
  • 2个硬件
  • 2个硬件升级
  • 2个圆片
  • 2个栅电极
  • 2个栅结构
  • 2个栅介质
  • 2个直流

机构

  • 6个中国电子科技...
  • 2个南京电子器件...

传媒

  • 5个电子与封装
  • 2个电子产品可靠...
  • 2个固体电子学研...
  • 1个电脑编程技巧...
  • 1个河北科技大学...
  • 1个2010年全...
  • 1个第二届电磁环...
  • 1个第十二届全国...
  • 1个2010’全...

地区

  • 6个江苏省
共 6 条 记 录，以下是 1-6
高建峰
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题：砷化镓 赝配高电子迁移率晶体管 高电子迁移率晶体管 掺杂 介质
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
顾梅
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题：传输协议 ORACLE数据库 半导体行业 半导体芯片 函数
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
章军云
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题：砷化镓 赝配高电子迁移率晶体管 高电子迁移率晶体管 电极 掺杂
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张新焕
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题：可靠性 静电 微电子器件 微波器件 失效模式
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
陈金远
供职机构：南京电子器件研究所
研究主题：在片测试 测试技术 集成电路芯片 射频集成电路 射频
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
曹敏华
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题：在片测试 可靠性 微波器件 失效模式 功率测试
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0