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文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 4篇电子电信
  • 1篇自然科学总论
  • 1篇理学

主题

  • 4篇可靠性
  • 2篇电子器件
  • 2篇微电子
  • 2篇微电子器件
  • 2篇静电
  • 1篇在片测试
  • 1篇失效模式
  • 1篇微波器件
  • 1篇离散数据
  • 1篇静电防护
  • 1篇静电放电
  • 1篇化合物半导体
  • 1篇化合物半导体...
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件

机构

  • 5篇中国电子科技...
  • 2篇南京国博电子...

作者

  • 5篇张新焕
  • 2篇曹敏华
  • 2篇刘军霞
  • 1篇陈金远
  • 1篇康耀辉
  • 1篇顾梅

传媒

  • 2篇电子与封装
  • 1篇河北科技大学...
  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 3篇2012
  • 2篇2011
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
微波在片测试数据离散剔除算法研究
2012年
针对微波在片测试项目多、参数复杂、数据处理灵活性大的特点,开发了工艺控制微波数据处理软件,但该软件存在离散数据剔除难的问题。文章讨论了如何对离散数据进行剔除的几种算法:模拟EXCEL表格画图法、一致性剔除离散算法、累积均方差剔除离散法、拟合正态分布曲线算法,最终选定拟合正态分布曲线算法作为剔除离散方法。将剔除离散数据功能完善到工艺控制微波数据处理软件,将使微波在片测试数据处理最终实现自动化。
曹敏华康耀辉顾梅陈金远张新焕
关键词:在片测试离散数据
Ⅲ/Ⅴ族化合物半导体器件的空间应用可靠性
2012年
论述了Ⅲ/Ⅴ半导体器件在空间系统应用中的可靠性和质量鉴定方法。讨论了空间应用中该类器件常见的失效机制、辐射效应以及其它与高可靠性空间应用中相关的可靠性鉴定技术方法。
张新焕刘军霞
微电子器件工业生产中的静电防护研究被引量:2
2011年
从ESD过程分析入手,对微电子器件工业生产中的静电来源以及泄放途径进行了剖析,介绍了4种静电放电模型,进而阐述了微电子器件工业生产中的静电防护技术以及静电防护体系,以确保静电防护的有效性。
刘军霞张新焕
关键词:静电放电微电子器件可靠性
微电子器件工业生产中的静电防护研究
从ESD过程分析入手,对微电子器件工业生产中的静电来源以及泄放途径进行了剖析,介绍了4种静电放电模型,进而阐述了微电子器件工业生产中的静电防护技术以及静电防护体系,以确保静电防护的有效性。实测表明:经过软硬件电磁兼容处理...
刘军霞张新焕
关键词:静电防护微电子器件可靠性
微波器件的可靠性及失效分析被引量:3
2012年
微波器件的可靠性直接影响整机系统的可靠性,失效分析工作可以显著提高微波器件的质量与可靠性,从而提高整机系统的质量与可靠性。同时,失效分析工作会带来很高的经济效益,对元器件的生产方和使用方都具有重要意义。微波器件失效的主要原因有两个方面:固有缺陷和使用不当,固有缺陷由生产方引起,使用不当主要由用户引起。微波器件可以分为微波分立器件、微波单片电路以及微波组件三大类,文章分别对三类微波器件的主要失效模式和失效机理做了较为全面的分析和概括。
张新焕刘军霞曹敏华
关键词:微波器件可靠性失效模式
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