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康耀辉

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇制作方法
  • 2篇小尺寸
  • 2篇介质
  • 2篇寄生参数
  • 2篇T形栅
  • 2篇成品率
  • 1篇硬件
  • 1篇硬件升级
  • 1篇在片测试
  • 1篇上传
  • 1篇文本格式
  • 1篇文件上传
  • 1篇芯片
  • 1篇离散数据
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体芯片
  • 1篇半导体行业
  • 1篇传输协议

机构

  • 4篇中国电子科技...

作者

  • 4篇康耀辉
  • 3篇高建峰
  • 2篇章军云
  • 2篇顾梅
  • 1篇陈金远
  • 1篇张新焕
  • 1篇曹敏华

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2015
  • 1篇2013
  • 1篇2012
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
微波在片测试数据离散剔除算法研究
2012年
针对微波在片测试项目多、参数复杂、数据处理灵活性大的特点,开发了工艺控制微波数据处理软件,但该软件存在离散数据剔除难的问题。文章讨论了如何对离散数据进行剔除的几种算法:模拟EXCEL表格画图法、一致性剔除离散算法、累积均方差剔除离散法、拟合正态分布曲线算法,最终选定拟合正态分布曲线算法作为剔除离散方法。将剔除离散数据功能完善到工艺控制微波数据处理软件,将使微波在片测试数据处理最终实现自动化。
曹敏华康耀辉顾梅陈金远张新焕
关键词：在片测试离散数据
一种介质辅助两次成形T形栅的制作方法
本发明公开了一种介质辅助两次成形T形栅的制作方法，通过两次工艺分别制作T形栅的上、下两部分，结合SiN介质辅助，保证了T形栅的几何稳定度，从而获得较高成品率的小尺寸T形栅，减小了器件的寄生参数，提高了器件的性能，特别是高...
康耀辉高建峰章军云
文献传递
一种基于文件解析的半导体芯片加工设备状态监控方法
本发明公开了一种基于文件解析的半导体芯片加工设备状态监控方法，该方法包括如下步骤：(1)采集半导体芯片加工设备自动生成的文件；(2)进行文件解析，形成符合SECS传输协议的文本格式；(3)把解析的文件上传给半导体芯片加工...
吴凡孙光峤于永洲高建峰康耀辉顾梅马骁陆家俊
文献传递
一种介质辅助两次成形T形栅的制作方法
本发明公开了一种介质辅助两次成形T形栅的制作方法，通过两次工艺分别制作T形栅的上、下两部分，结合SiN介质辅助，保证了T形栅的几何稳定度，从而获得较高成品率的小尺寸T形栅，减小了器件的寄生参数，提高了器件的性能，特别是高...
康耀辉高建峰章军云
文献传递
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