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刘军霞

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇可靠性
  • 1篇失效模式
  • 1篇微波器件
  • 1篇化合物半导体
  • 1篇化合物半导体...
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇张新焕
  • 2篇刘军霞
  • 1篇曹敏华

传媒

  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇电子与封装

年份

  • 2篇2012
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
Ⅲ/Ⅴ族化合物半导体器件的空间应用可靠性
2012年
论述了Ⅲ/Ⅴ半导体器件在空间系统应用中的可靠性和质量鉴定方法。讨论了空间应用中该类器件常见的失效机制、辐射效应以及其它与高可靠性空间应用中相关的可靠性鉴定技术方法。
张新焕刘军霞
微波器件的可靠性及失效分析被引量：3
2012年
微波器件的可靠性直接影响整机系统的可靠性,失效分析工作可以显著提高微波器件的质量与可靠性,从而提高整机系统的质量与可靠性。同时,失效分析工作会带来很高的经济效益,对元器件的生产方和使用方都具有重要意义。微波器件失效的主要原因有两个方面:固有缺陷和使用不当,固有缺陷由生产方引起,使用不当主要由用户引起。微波器件可以分为微波分立器件、微波单片电路以及微波组件三大类,文章分别对三类微波器件的主要失效模式和失效机理做了较为全面的分析和概括。
张新焕刘军霞曹敏华
关键词：微波器件可靠性失效模式
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