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李艳辉

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：北京大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文专利

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇电路可靠性
  • 2篇电子器件
  • 2篇迭代
  • 2篇商用
  • 2篇BTI
  • 2篇EDA

机构

  • 2篇北京大学

作者

  • 2篇王润声
  • 2篇郭少锋
  • 2篇黄如
  • 2篇郭天雷
  • 2篇黄春益
  • 2篇李艳辉

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法
本发明公开了一种适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法，该方法利用采用逐次迭代，在商用可靠性仿真预估软件中基于新的BTI模型外推预测特定时间之后退化量D的大小。本发明可以针对计算效率以及精度的折中，对...
王润声郭少锋余卓擎黄如廖思愚黄春益郭天雷李艳辉陈奕先谢居山
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适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法
本发明公开了一种适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法，该方法利用采用逐次迭代，在商用可靠性仿真预估软件中基于新的BTI模型外推预测特定时间之后退化量D的大小。本发明可以针对计算效率以及精度的折中，对...
王润声郭少锋余卓擎黄如廖思愚黄春益郭天雷李艳辉陈奕先谢居山
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