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黄春益

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:北京大学更多>>
相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文专利

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇电路可靠性
  • 2篇电子器件
  • 2篇迭代
  • 2篇商用
  • 2篇BTI
  • 2篇EDA

机构

  • 2篇北京大学

作者

  • 2篇王润声
  • 2篇郭少锋
  • 2篇黄如
  • 2篇郭天雷
  • 2篇黄春益
  • 2篇李艳辉

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法
本发明公开了一种适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法,该方法利用采用逐次迭代,在商用可靠性仿真预估软件中基于新的BTI模型外推预测特定时间之后退化量D的大小。本发明可以针对计算效率以及精度的折中,对...
王润声郭少锋余卓擎黄如廖思愚黄春益郭天雷李艳辉陈奕先谢居山
适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法
本发明公开了一种适用于EDA电路可靠性仿真的迭代外推预测BTI退化量的方法,该方法利用采用逐次迭代,在商用可靠性仿真预估软件中基于新的BTI模型外推预测特定时间之后退化量D的大小。本发明可以针对计算效率以及精度的折中,对...
王润声郭少锋余卓擎黄如廖思愚黄春益郭天雷李艳辉陈奕先谢居山
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