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刘国强

作品数:5 被引量:5H指数:1
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所更多>>
相关领域:电子电信航空宇航科学技术自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 2篇热真空
  • 1篇低气压
  • 1篇低噪
  • 1篇低噪声
  • 1篇低噪声放大器
  • 1篇电路
  • 1篇电压
  • 1篇有压
  • 1篇真空试验
  • 1篇正向电压
  • 1篇射频
  • 1篇射频电路
  • 1篇统计分析
  • 1篇气密
  • 1篇气密性
  • 1篇去离子
  • 1篇去离子水
  • 1篇热真空试验
  • 1篇外周
  • 1篇围合

机构

  • 5篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 5篇刘国强
  • 2篇李树杰
  • 2篇刘中华
  • 1篇董四华
  • 1篇吴家锋
  • 1篇许春良
  • 1篇高永辉

传媒

  • 2篇环境技术
  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 2篇2024
  • 1篇2023
  • 2篇2012
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
热真空试验设备中的控温方式研究被引量:5
2012年
真空下进行温度循环试验时控温方式非常关键,选择合适的控温方式对试验结果有很大的影响。不同的控温方式,其升降温速率是不同的,温度浸透时间也是不同的;不合适的控温方式可能导致不正确的试验结果,甚至损坏试验样品。对热真空试验的控温方式进行了试验研究,分析了不同的控温方式的优缺点,在以后的试验过程中可以根据不同的试验来选择不同的、合适的控温方式。
刘中华李树杰刘国强
关键词:热真空控温方式
低噪声放大器热真空试验可靠性与失效机理研究
2024年
应用于航天领域的低噪声放大器,作为无线通信设备的前段核心部件,其工作环境复杂,无法进行及时的更换和维修。为了保障无线通信设备要求高可靠、长寿命,本文选择四通道接收组件一只进行热真空试验。该组件的低噪声放大器在温度范围为(-55~150)℃的热真空试验下,均发生不同程度的退化和失效,并借助金相显微镜、扫描电镜(SEM)、聚焦离子束(FIB)及微光显微镜(EMMI)等失效分析设备对试验后组件中的低噪声放大器芯片开展失效分析研究,确定芯片的薄弱环节和失效机理,为优化低噪声放大器设计,提高其在太空环境下的性能和可靠性提供实验依据。
刘国强
关键词:低噪声放大器热真空试验可靠性
二极管正向电压测试能力验证计划结果分析
2024年
本文分析了能力验证计划“二极管正向电压测试”项目的结果。通过对参加机构的测试数据进行分析,评估了各机构在二极管正向电压测试方面的整体水平,并识别出可能存在的问题和改进方向。研究结果表明,各参加机构都有着较高的技术水平和专业能力,能够准确完成测试任务。文章最后提出了针对性的建议,旨在提升整个行业的检测技术水平。
刘国强
关键词:统计分析
低气压去离子水检漏方法研究
2012年
在被要求密封的电子产品(器件或组件)中气密性不良是造成产品失效的重要原因之一。在传统的检漏方法中,对低密封产品(如体积较大的组件及小整机)往往采用油质检漏,但此类方法也存在一些弊端。介绍了一种低气压去离子水检漏方法,阐述了其试验原理、理论依据以及采用本方法进行的实际检漏过程,探讨了在检漏过程中易造成误判、漏判的几点注意事项,最后对试验结果进行了验证,认为在漏率不大于10 Pa.cm3/s的情况下,该方法是行之有效的检漏方法之一,与传统的油质检漏方法相比,有其不可替代的优越性。
刘中华刘国强李树杰
关键词:气密性检漏低气压去离子水密封
射频电路传输线固定装置
本发明提供了一种射频电路传输线固定装置,属于射频电路的技术领域,包括第一扣体、第二扣体和压紧件;第一扣体具有呈弧形设置的第一夹紧面;第二扣体具有呈弧形设置的第二夹紧面;第二扣体与第一扣体相对扣合,且围合呈用于放置传输线的...
董四华许春良高永辉吴家锋刘国强潘旭
共1页<1>
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