刘中华
- 作品数：8 被引量：26H指数：4
- 供职机构：中国电子科技集团公司更多>>
- 相关领域：电子电信航空宇航科学技术更多>>
- 热真空试验标准与方法分析被引量：7
- 2016年
- 热真空试验是针对航天产品特有的试验项目,其一般参照相应的试验标准和方法进行。但是,如果标准中规定的试验条件过松,则有可能达不到检测产品的真实性能的目的;如果试验条件过严,则又可能导致过试验现象,影响产品的性能。因此,对航天产品热真空试验的相关标准进行了对比分析,以期对该试验项目相关标准的正确选择和应用提供一定的参考。
- 刘中华
- 关键词：航天产品热真空试验
- 微波组件低气压检漏试验方法
- 本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。
- 席善斌沈彤茜高金环李树杰刘中华彭浩黄杰崔波陈海蓉
- 基于并行敷设的双漏泄电缆隔离度研究
- 随着MIMO(Multi-Input Multi-Out-put,多输入多输出)技术的成熟与应用,并行敷设多根漏缆的方案越来越常见,漏泄电缆(以下简称漏缆)的多缆并行是否会加重通信系统间的相互干扰,多缆并行隔离度到底如何...
- 杨志行刘中华范伟聪吴超卫伟
- 关键词：漏缆隔离度MIMO并行敷设
- 低气压去离子水检漏方法研究
- 2012年
- 在被要求密封的电子产品(器件或组件)中气密性不良是造成产品失效的重要原因之一。在传统的检漏方法中,对低密封产品(如体积较大的组件及小整机)往往采用油质检漏,但此类方法也存在一些弊端。介绍了一种低气压去离子水检漏方法,阐述了其试验原理、理论依据以及采用本方法进行的实际检漏过程,探讨了在检漏过程中易造成误判、漏判的几点注意事项,最后对试验结果进行了验证,认为在漏率不大于10 Pa.cm3/s的情况下,该方法是行之有效的检漏方法之一,与传统的油质检漏方法相比,有其不可替代的优越性。
- 刘中华刘国强李树杰
- 关键词：气密性检漏低气压去离子水密封
- X016(PD300)、X017(PD75)、X018(PD75A)、X019(PD40)型高速InGaAs光电探测器芯片
- 曾庆明李献杰乔树允王全树耿林茹蒲运章宗婉华蔡克理刘中华刘春雨
- 该课题对正面进光结构InP/InGaAs PIN 光电探测器芯片进行了全面、系统的研究，开发了开管锌扩散工艺方法；设计了双层增透膜，提高了光响应度；采用了电镀加厚焊接电极；实现了低阻P型欧姆接触。该研究达国际先进水平。
- 关键词：
- 关键词：光电芯片
- 热真空试验设备中的控温方式研究被引量：5
- 2012年
- 真空下进行温度循环试验时控温方式非常关键,选择合适的控温方式对试验结果有很大的影响。不同的控温方式,其升降温速率是不同的,温度浸透时间也是不同的;不合适的控温方式可能导致不正确的试验结果,甚至损坏试验样品。对热真空试验的控温方式进行了试验研究,分析了不同的控温方式的优缺点,在以后的试验过程中可以根据不同的试验来选择不同的、合适的控温方式。
- 刘中华李树杰刘国强
- 关键词：热真空控温方式
- 星用微波组件低气压放电与真空微放电效应研究被引量：10
- 2014年
- 低气压放电效应与真空微放电效应(亦被称为电子二次倍增效应)是装载在航空器或航天器上的星用微波组件在上天过程中与正常定轨后工作所要经历的两个阶段,经历发射至定轨工作的全过程(亦被称为入轨)的星用微波组件要经历低气压放电的考验,而对定轨后运行的星用微波组件则要经受真空微放电的考验。其放电机理和环境条件各异,两种环境试验不具有互换性,对此进行了研究;并对低气压放电与真空微放电提出了相应的防护措施。
- 刘中华李树杰
- 微波组件产品高加速寿命试验综述被引量：5
- 2017年
- 微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素。高加速寿命试验能够在产品开发的早期识别出产品的设计缺陷和薄弱环节,从而改善产品的可靠性。因此,对微波组件产品的高加速寿命试验方法进行了详细的介绍,对于其高加速寿命试验的正确开展具有一定的指导意义。
- 晋李华刘中华
- 关键词：高加速寿命试验
