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陈雯静

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：重庆光电技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电荷耦合
  • 1篇电荷耦合器
  • 1篇电荷耦合器件

机构

  • 1篇重庆光电技术...

作者

  • 1篇程顺昌
  • 1篇黄芳
  • 1篇陈雯静
  • 1篇林珑君
  • 1篇王艳

传媒

  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
胶封器件密封失效分析被引量：3
2011年
对采用胶粘剂密封盖板的CCD器件密封失效现象进行了失效分析,得到了主要的失效原因:水气、胶黏剂的混合以及固化程序,并通过改进措施,使CCD器件的密封合格率得到大幅提升,达到了98%,表明胶封工艺达到了实用化水平。
程顺昌王艳黄芳陈雯静林珑君
关键词：电荷耦合器件
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共1页<1>
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