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刘云洁
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4
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供职机构:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
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高原
中国航天科技集团公司第九研究院...
梁丽娟
中国航天科技集团公司第九研究院...
吴东坡
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刘云洁
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2016
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一种化学沉铜背光测试方法
本发明涉及一种印制电路板孔金属化,尤其涉及一种化学沉铜背光测试方法,使用覆铜箔环氧树脂玻璃布层压板蚀刻成光板后压合为板厚为2.0mm的12层板;钻取直径分别为0.3mm、0.8mm、1.0mm的背光测试孔各两个;将背光标...
刘云洁
高原
张文晗
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一种化学沉铜背光测试方法
本发明涉及一种印制电路板孔金属化,尤其涉及一种化学沉铜背光测试方法,使用覆铜箔环氧树脂玻璃布层压板蚀刻成光板后压合为板厚为2.0mm的12层板;钻取直径分别为0.3mm、0.8mm、1.0mm的背光测试孔各两个;将背光标...
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一种三维凸点印制电路板及其制作方法
本发明涉及印制电路板工艺技术领域,尤其涉及一种三维凸点印制电路板及其制作方法,包括以下流程:制作电路图形印制电路板、制作凸点图形印制电路板、电镀、去膜、镀金、加工定位孔和装订孔、成型;本发明在现有二维平面印制电路板的线路...
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刘云洁
梁丽娟
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一种三维凸点印制电路板及其制作方法
本发明涉及印制电路板工艺技术领域,尤其涉及一种三维凸点印制电路板及其制作方法,包括以下流程:制作电路图形印制电路板、制作凸点图形印制电路板、电镀、去膜、镀金、加工定位孔和装订孔、成型;本发明在现有二维平面印制电路板的线路...
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