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邵雪峰
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复旦大学
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方强
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彭雅芳
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一种提高芯片抗电过应力能力的方法
本发明属于半导体芯片封装测试技术领域,具体为一种提高芯片抗电过应力能力的方法。本发明采用优化的芯片焊接温度-时间曲线,具体而言是提高焊接最高温度到363-365℃,延长焊料熔融时间到38-40分钟,降低焊后降温速率到8....
俞宏坤
吴顶和
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方强
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