彭雅芳
- 作品数：5 被引量：4H指数：1
- 供职机构：复旦大学材料科学系更多>>
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- 相关领域：电子电信更多>>
- N&K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用被引量：1
- 2010年
- 使用N&K多功能薄膜分析仪对OLED的结构进行分析,对比了不同时间室温老化实验样品的反射率波谱。对反射率进行计算拟合,得到OLED的多层膜结构信息。对相同室温老化实验条件下的完好器件和失效器件的结构进行了对比,发现对于结构为ITO/NPB/Alq3/LiF/Al的器件,主要是Alq3和LiF层发生变化引起器件失效。由此也证明使用N&K多功能薄膜分析仪是OLED失效分析的有效手段。
- 陈柳俞宏坤曾韡彭雅芳
- 关键词：有机电致发光器件
- N&K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用
- 通过N&K多功能薄膜分析仪对OLED的结构进行分析，对比了进行不同时间室温老化实验的样品反射率波谱。对反射率进行计算拟合，得到OLED的多层膜结构信息。对相同室温老化实验条件下的完好器件和失效器件的结构进行了对比，发现对...
- 陈柳俞宏坤曾韡彭雅芳
- 关键词：电致发光器件
- 文献传递
- OLED的失效分析技术研究
- 本文对OLED的失效分析技术进行了研究。有机电致发光器件((OLED)驱动电压低、发光亮度大、视角宽、响应速度快、制作工艺简单,是新一代平板显示技术中的一大亮点:是21世纪首选的绿色照明光源之一。目前阻碍OLED走向实用...
- 彭雅芳
- 关键词：发光器件电致发光
- 文献传递
- OLED电极引线的腐蚀机理分析被引量：1
- 2008年
- 有机电致发光器件(OLED)电极引线发生腐蚀是OLED失效的重要原因.用XRD,XPS,SEM和EDX等方法对镀Cr的ITO电极引线样品的腐蚀产物成分、结构和形貌进行了分析,XRD和XPS结果表明镀层Cr反应生成Cr(OH)3和CrO3,SEM和EDX结果表明Cr先腐蚀,ITO随后发生腐蚀.然后通过对引线样品在不同溶液中的极化曲线分析,得知Cr腐蚀产物的价态与其所处的电位有关,且氯离子对ITO腐蚀具有促进作用.最后根据实验结果对电极引线腐蚀的全过程提出一简化模型进行解释.
- 彭雅芳俞宏坤蒋益明余峰张积梅
- 关键词：有机电致发光器件铬镀层
- 一种提高芯片抗电过应力能力的方法
- 本发明属于半导体芯片封装测试技术领域，具体为一种提高芯片抗电过应力能力的方法。本发明采用优化的芯片焊接温度－时间曲线，具体而言是提高焊接最高温度到363－365℃，延长焊料熔融时间到38－40分钟，降低焊后降温速率到8....
- 俞宏坤吴顶和彭雅芳方强邵雪峰
- 文献传递
