郑平平 作品数:7 被引量:1 H指数:1 供职机构: 内蒙古大学物理科学与技术学院 更多>> 发文基金: 国家自然科学基金 更多>> 相关领域: 理学 电气工程 电子电信 更多>>
CuGaSe2∶Ge中间带半导体材料的制备 中间带太阳电池是充分利用太阳光谱中的红外光子能量的一种高效率新概念太阳电池,其理论极限效率可达63.2%.由于铜基(CuGaSe2)化合物带隙为2.4~2.5eV,且吸收系数大、缺陷容限高,成为了最理想的中间带基质材料.... 郑平平 肖玲玲 康振锋 刘文德 李强 丁铁柱关键词:光学带隙 文献传递 CIGS双梯度带隙吸收层的制备及特性 2014年 采用脉冲激光沉积(PLD)方法,在钠钙玻璃上沉积不同Ga含量的CuIn(1-x)Gax Se2薄膜,研究不同Ga含量对CIGS薄膜结构及光学特性的影响。研究表明:随着Ga含量增加,CIGS薄膜的光学带隙增大。优选特性较好的CIGS沉积在同一个钠钙玻璃衬底上,使Ga/(In+Ga)比在薄膜内纵深方向呈先减小后增加的变化。采用XPS逐层刻蚀分析薄膜的元素组成,利用带隙近似公式得到能带随深度变化情况,最终得到结构、光学特性和电学特性较好的双梯度带隙结构薄膜。 李强 康振锋 刘文德 郑平平 肖玲玲 范悦 薄青瑞 齐彬彬 丁铁柱关键词:脉冲激光沉积 CuGaSe_2∶Ge中间带半导体材料的制备 被引量:1 2014年 采用脉冲激光沉积(PLD)法在钠钙玻璃衬底上制备了CuGaSe2∶Ge薄膜。采用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对CuGaSe2∶Ge薄膜的晶体结构和表面形貌进行了表征,采用紫外-可见分光光度计分析了CuGaSe2∶Ge薄膜的光吸收、反射和透射特性。结果表明,在CuGaSe2中掺IV族元素Ge,价带到中间带和中间带到导带的光子吸收能量分别为0.89 eV和0.71 eV,禁带宽度为1.60 eV,能够形成中间带。 郑平平 丁铁柱 康振锋 刘文德 李强 肖玲玲关键词:脉冲激光沉积 禁带宽度 退火温度对CuGa_(0.8)Ge_(0.2)Se_2薄膜结构及光学特性的影响 被引量:1 2015年 采用脉冲激光沉积法在SiO2衬底上制备了CuGa0.8Ge0.2Se2薄膜。采用X射线衍射和X射线能谱仪研究了退火温度对薄膜晶体结构和成分的影响,利用扫描电子显微镜表征了薄膜的表面形貌,采用紫外—可见分光光度计分析了薄膜的光学特性。结果表明,在CuGaSe2中掺杂Ⅳ族元素Ge,光子吸收能量分别为0.65和0.92 e V,禁带宽度为1.57 e V,能够形成中间带。并随着退火温度的升高,CuGa0.8Ge0.2Se2薄膜的光学带隙逐渐减小。 肖玲玲 丁铁柱 郑平平 范悦 薄青瑞关键词:退火温度 脉冲激光沉积法 YSZ/STO/YSZ-STO超晶格电解质薄膜低温电学特性 2015年 采用脉冲激光沉积法,在单侧抛光的STO基底上制备YSZ/STO/YSZ超品格薄膜。利用x射线衍射、扫描电镜和射频阻抗/材料分析仪对多层膜的物相结构、表面形貌以及电学特性等进行表征。实验结果发现,YSZ/STD/YSZ超晶格薄膜在300~500%之间,其电导活化能最小值为0.76eV,在300℃ 时测得的电导率比体材料的电导率提高了三个数量级。 康振锋 刘文德 李强 郑平平 范悦 薄青瑞 肖玲玲 丁铁柱关键词:脉冲激光沉积 YSZ/YSZ-NiO电解质薄膜在低温条件下的电学特性研究 2015年 采用脉冲激光沉积(PLD)法,在多孔支撑的NiO-YSZ阳极基底上制备YSZ电解质薄膜。利用XRD、SEM和射频阻抗/材料分析仪对多层膜的物相结构、表面形貌以及电学特性等进行表征。实验结果发现,YSZ电解质薄膜在300-500℃之间,其电导活化能最小值为0.86e V,电导率可达到7.96×10-5s/cm。 康振锋 郑平平 薄青瑞 许彦彬 刘华艳 苏海莹 贾晓静 丁铁柱关键词:低温固体氧化物燃料电池 YSZ薄膜 PLD CuGaSe/_2:Ge中间带半导体材料的制备及特性研究 中间带太阳电池是一种高效率、低成本的新概念太阳能电池,它可以充分利用太阳光谱中的红外光子能量,其理论极限效率高达63.2/%。铜基CuGaSe2化合物,带隙非常接近中间带基质材料的最理想值,而且吸收系数大,缺陷容限高,常... 郑平平关键词:PLD 禁带宽度 文献传递