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于学东
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供职机构:
中国电子科技集团第十三研究所
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电子电信
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合作作者
彭浩
中国电子科技集团第十三研究所
高金环
中国电子科技集团第十三研究所
李树杰
中国电子科技集团第十三研究所
徐立生
中国电子科技集团第十三研究所
曹耀龙
中国电子科技集团第十三研究所
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彭浩
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所
研究主题:加速寿命试验 半导体器件 硅 可靠性 测试法
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高金环
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所
研究主题:加速寿命试验 可靠性 半导体器件 共振隧穿二极管 失效率
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李树杰
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所
研究主题:微波组件 检漏 气密性 低气压 微放电
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徐立生
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所
研究主题:可靠性 半导体器件 砷化镓 耿氏二极管 失效模式
发表作品
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黄杰
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所
研究主题:加速寿命试验 测试夹具 半导体器件 功率LED 硅
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曹耀龙
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所
研究主题:功率LED 加速寿命试验 激活能 使用寿命 测试测量
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