徐立生
- 作品数：12 被引量：17H指数：3
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 大功率晶体管稳态热阻测试
- 利用电学测量的方法成功地测量了大功率晶体管的稳态热阻,并通过大量的测试摸索出了一套有效、可靠的测量稳态热阻的方法,测试数据准确可靠.
- 张瑞霞童亮谭宗新徐立生
- 关键词：可靠性大功率晶体管
- 文献传递
- AT42070晶体管可靠性快速评价方法
- 本文介绍一种针对进口工业品微波小功率晶体管的单批可靠性快速评价方法,以及在稳态热阻测量中须注意的事项.
- 高兆丰徐立生
- 关键词：微波晶体管可靠性
- 文献传递
- 半导体器件的贮存寿命
- 本文从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了3种美国军用半导体器件长期贮存的实例,介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订.
- 徐立生高兆丰梁法国张士芬
- 关键词：半导体器件
- 文献传递
- 通信卫星用GaAs微波场效应晶体管的可靠性快速评价技术
- 2000年
- 一、引言 GaAs微波场效应晶体管是通信卫星转发器中的关键器件,除了电性能指标要求高以外,还要求高可靠、长寿命。目前,国际上大型通信卫星都装有十几个C波段和Ku波段转发器,要求在轨寿命为十五年。若采用常规的可靠性定级试验方法,需要投入大量的器件和很长的试验周期。例如,对CX562器件过去进行过六级失效率定级试验,投入458只器件,试验2000h,连续工作了三个月以零失效通过,当时样品费和试验费需要几十万元,费用极其昂费。
- 徐立生马素芝何建华
- 关键词：砷化镓微波场效应晶体管通信卫星可靠性
- 耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析
- 本文通过案例分析,对耿氏二极管经常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了讨论,并根据失效机理指出了避免以上失效应采取的一些措施,对该器件的制造商和使用者有一定的指导意义．
- 高兆丰高金环徐立生张士芬
- 关键词：耿氏二极管可靠性失效模式
- 文献传递
- C波段GaAs功率场效应晶体管可靠性快速评价技术被引量：5
- 1995年
- 叙述了一种快速评价ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管的方法——高温加速寿命试验，利用该方法对Ｃ波段ＧａＡｓ功率场效应晶体管ＤＸ００１１进行可靠性评估。在偏置Ｖ＿（ＤＳ）＝８Ｖ，Ｉ＿（ＤＳ）＝３７５ｍＡ，沟道温度Ｔｃｈ＝１１０℃，１０年的失效率λ≈２７ＦＩＴ。其主要失效模式是Ｉ＿（ＤＳＳ）退化，激活能Ｅ＝１．２８ｅＶ。
- 徐立生何建华苏文华齐俊臣
- 关键词：加速寿命试验可靠性C波段砷化镓
- 对晶体管阵列热阻和电老炼相关技术的探讨
- 2006年
- 为解决在未知最大额定功耗的情况下进行电老炼的问题,提供了晶体管阵列热阻和电老炼的相关技术与方法,指出了如何利用热阻去推算最大功耗以及如何验证推算的正确性,最后给出了晶体管阵列老炼时应注意的问题。
- 曹耀龙于学东徐立生
- 关键词：晶体管阵列热阻
- 耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析被引量：1
- 2008年
- 介绍了耿氏二极管的工作原理及其基本结构,通过外观检查、电特性测试、环境试验、内部目检、X射线及扫描电镜(SEM)检查等失效分析手段和方法,针对耿氏二极管在使用过程中较常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了分析和讨论,并根据上述几种失效模式对应的机理,指出了避免失效的一些措施,对该器件的制造商和使用者具有一定的参考价值。
- 高兆丰高金环徐立生张士芬
- 关键词：耿氏二极管可靠性失效模式
- LED光源寿命评估方法探讨被引量：4
- 2013年
- 简要介绍了北美体系(IES)和国际电工协会(IEC)体系中LED光源流明维持寿命评估标准的发展和现状。基于半导体产品可靠性相关知识,对美国照明工程学会2011年发布的IES TM-21-11 LED光源流明维持寿命的推算方法中的数据选用和数据处理方法提出了质疑,并通过文中提及的E3.0实例对问题观点进行了例证说明。建议选用设备可靠性试验的相关标准GB5080-85对LED光源流明维持寿命进行评估,期望能够给国内半导体照明行业相关人士提供参考。
- 高金环张磊高兆丰黄杰徐立生
- 关键词：点估计
- 温度循环对半导体分立器件气密性影响研究
- 2001年
- 阐述了影响器件气密性的各种因素和质量一致性检验中所存在的问题 ,给出了摸底试验条件的制定思路 ,并对实验结果进行了分析 ,最后就有关检漏工作问题提出了几点建议。
- 李树杰李亚红高兆丰王长河徐立生
- 关键词：温度循环半导体器件气密性
