张士芬
- 作品数：3 被引量：1H指数：1
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析
- 本文通过案例分析,对耿氏二极管经常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了讨论,并根据失效机理指出了避免以上失效应采取的一些措施,对该器件的制造商和使用者有一定的指导意义．
- 高兆丰高金环徐立生张士芬
- 关键词：耿氏二极管可靠性失效模式
- 文献传递
- 半导体器件的贮存寿命
- 本文从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了3种美国军用半导体器件长期贮存的实例,介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订.
- 徐立生高兆丰梁法国张士芬
- 关键词：半导体器件
- 文献传递
- 耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析被引量：1
- 2008年
- 介绍了耿氏二极管的工作原理及其基本结构,通过外观检查、电特性测试、环境试验、内部目检、X射线及扫描电镜(SEM)检查等失效分析手段和方法,针对耿氏二极管在使用过程中较常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了分析和讨论,并根据上述几种失效模式对应的机理,指出了避免失效的一些措施,对该器件的制造商和使用者具有一定的参考价值。
- 高兆丰高金环徐立生张士芬
- 关键词：耿氏二极管可靠性失效模式
