您的位置: 专家智库 > >

何建华

作品数:2 被引量:5H指数:1
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇砷化镓
  • 2篇晶体管
  • 2篇可靠性
  • 2篇场效应
  • 2篇场效应晶体管
  • 1篇通信
  • 1篇通信卫星
  • 1篇微波场效应晶...
  • 1篇卫星
  • 1篇加速寿命试验
  • 1篇C波段
  • 1篇GAAS功率
  • 1篇GAAS

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇何建华
  • 2篇徐立生
  • 1篇马素芝

传媒

  • 1篇半导体情报
  • 1篇电子元器件应...

年份

  • 1篇2000
  • 1篇1995
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
通信卫星用GaAs微波场效应晶体管的可靠性快速评价技术
2000年
一、引言 GaAs微波场效应晶体管是通信卫星转发器中的关键器件,除了电性能指标要求高以外,还要求高可靠、长寿命。目前,国际上大型通信卫星都装有十几个C波段和Ku波段转发器,要求在轨寿命为十五年。若采用常规的可靠性定级试验方法,需要投入大量的器件和很长的试验周期。例如,对CX562器件过去进行过六级失效率定级试验,投入458只器件,试验2000h,连续工作了三个月以零失效通过,当时样品费和试验费需要几十万元,费用极其昂费。
徐立生马素芝何建华
关键词:砷化镓微波场效应晶体管通信卫星可靠性
C波段GaAs功率场效应晶体管可靠性快速评价技术被引量:5
1995年
叙述了一种快速评价GaAs微波功率场效应晶体管的方法——高温加速寿命试验,利用该方法对C波段GaAs功率场效应晶体管DX0011进行可靠性评估。在偏置V_(DS)=8V,I_(DS)=375mA,沟道温度Tch=110℃,10年的失效率λ≈27FIT。其主要失效模式是I_(DSS)退化,激活能E=1.28eV。
徐立生何建华苏文华齐俊臣
关键词:加速寿命试验可靠性C波段砷化镓
共1页<1>
聚类工具0