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宗龙章

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邹子英
供职机构：上海市计量测试技术研究院
研究主题：硅片 电磁兼容试验 同轴线 电磁兼容 掺砷
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
吴晓虹
供职机构：上海市计量测试技术研究院
研究主题：电阻率 半导体器件 掺砷 硅片 扩展电阻
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
闵靖
供职机构：上海市计量测试技术研究院
研究主题：硅片 硅 半导体器件 氧沉淀 集成电路
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
朱丽娜
供职机构：上海市计量测试技术研究院
研究主题：标准物质 测量方法 计量测试技术 粒度分析 电阻法
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
周全德
供职机构：中国上海测试中心
研究主题：硅片 四探针 薄层电阻 少子寿命 IC
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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