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24 条 记 录,以下是 1-10
焦芳
供职机构:南京电子器件研究所
研究主题:放大器 波段 GAN高电子迁移率晶体管 NM 功率放大器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
钱峰
供职机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题:砷化镓 射频集成电路 叉指电极 测试技术 分布放大器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
曹敏华
供职机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题:在片测试 可靠性 微波器件 失效模式 功率测试
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
徐光
供职机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题:测试技术 集成电路芯片 射频集成电路 射频 在片测试
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
高建峰
供职机构:南京电子器件研究所
研究主题:GAAS 砷化镓 PHEMT INP基 高电子迁移率晶体管
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
吴振海
供职机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题:射频集成电路 测试技术 集成电路芯片 射频 在片测试
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
陈新宇
供职机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题:射频集成电路 测试技术 集成电路芯片 单片电路 砷化镓
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
朱赤
供职机构:南京电子器件研究所
研究主题:分辨率 光刻胶 流淌 线宽 特征尺寸
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
彭龙新
供职机构:南京电子器件研究所
研究主题:微波单片集成电路 低噪声放大器 单片 GAAS 单片低噪声放大器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张新焕
供职机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题:可靠性 静电 微电子器件 微波器件 失效模式
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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