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朱宏生

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:华中师范大学物理科学与技术学院更多>>
发文基金:国家大学生创新性实验计划项目国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇磁光
  • 1篇射频磁控
  • 1篇射频磁控溅射
  • 1篇膜厚
  • 1篇溅射
  • 1篇矫顽力
  • 1篇光记录
  • 1篇非晶
  • 1篇非晶薄膜
  • 1篇磁光记录
  • 1篇磁光性能
  • 1篇磁控
  • 1篇磁控溅射

机构

  • 2篇华中师范大学
  • 1篇郧阳师范高等...

作者

  • 2篇郭继花
  • 2篇黄致新
  • 2篇朱宏生
  • 1篇章平
  • 1篇杨磊
  • 1篇邵剑波
  • 1篇崔增丽
  • 1篇冯小源
  • 1篇林玉
  • 1篇朱洪杰

传媒

  • 1篇功能材料
  • 1篇信息记录材料

年份

  • 2篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
溅射工艺对GdTbFeCo薄膜磁光性能的影响
2009年
采用射频磁控溅射法在玻璃基片上成功制得了GdTbFeCo非晶垂直磁化膜,研究了溅射工艺对GdTbFeCo薄膜磁光性能的影响。测量结果表明,基片与靶间距为72mm,溅射功率为75W,溅射气压为0.5Pa,薄膜厚度为120nm时,GdTbFeCo薄膜垂直方向矫顽力为477.6kA/m,克尔角为0.413°。
郭继花黄致新崔增丽杨磊邵剑波朱宏生章平
关键词:射频磁控溅射磁光性能
膜厚对GdTbFeCo非晶薄膜磁光性能的影响
2009年
采用射频磁控溅射法在玻璃基片上制备了GdTbFeCo非晶薄膜,通过调节溅射时间制备出了不同厚度的薄膜,并研究了膜厚对薄膜磁光性能的影响。磁光特性测试仪的测试结果表明:溅射功率为75W,溅射气压为0.5Pa,薄膜厚度为120nm时,可以使GdTbFeCo薄膜垂直方向矫顽力和克尔角达到较大值,分别高达4575.476Oe和0.393o。能满足磁光记录材料矫顽力大,磁光克尔角大的要求。
朱宏生冯小源朱洪杰林玉郭继花黄致新
关键词:磁光记录矫顽力
共1页<1>
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