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马敏辉

作品数:3 被引量:0H指数:0
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国防科技技术预先研究基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇电流
  • 1篇电路
  • 1篇电路制造
  • 1篇有机薄膜器件
  • 1篇载流子
  • 1篇热载流子
  • 1篇阻挡层
  • 1篇空穴
  • 1篇空穴阻挡层
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路制造
  • 1篇NPB
  • 1篇ALQ3
  • 1篇CMOS工艺

机构

  • 3篇中国电子科技...
  • 1篇电子科技大学
  • 1篇成都大学
  • 1篇无锡市广播电...

作者

  • 3篇马敏辉
  • 1篇涂启志
  • 1篇黎威志
  • 1篇赵文清
  • 1篇杨涛
  • 1篇贺琪
  • 1篇王军

传媒

  • 3篇电子与封装

年份

  • 2篇2013
  • 1篇2011
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
有机薄膜器件电流机制的研究
2011年
对于有机薄膜器件(包括有机电致发光器件(OLED)和有机场效应晶体管(OTFT)),器件的电流机制直接决定了器件的性能,因此深刻理解其相关机理是十分必要的。虽然对于有机薄膜器件的电学性能研究较早,但是由于器件结构及有机薄膜内部影响机制的复杂性使得不同学者的研究结果很不一致。为此,文章以相同的镁银合金(MgAg)为电极,有机电子传输及发光材料八羟基喹啉铝(Alq3)为有机功能层,深入研究了MgAg/Alq3/MgAg器件的电流机制。测试及拟合结果表明,该器件为单电子器件,器件的电流属陷阱电荷限制电流机制。不同温度下的测试结果表明,随着温度增加器件电流迅速增加,这是因为随温度增加,器件中载流子的浓度和迁移率呈指数上升。
杨涛马敏辉黎威志王军
关键词:有机薄膜器件
一种基于0.5μm CMOS工艺圆片级可靠性评估方法
2013年
论文提出了0.5μm CMOS工艺圆片级可靠性(WLR)评估的方法,为工艺、电路可靠性提高和及时在线控制开拓了新思路。论文针对0.5μm工艺中金属电迁移以及器件热载流子等失效项,分别给出了相关内容的工艺物理机理、测试结构、测试方法和结果。测试得出单一电迁移失效、热载流子失效寿命可以达到1×109数量级(几十年),初步实现了工艺可靠性的在线监控。
涂启志马敏辉赵文清
关键词:集成电路制造热载流子
NPB蓝色有机电致发光器件的性能优化研究
2013年
基于结构为ITO/NPB/BCP/Alq3/Mg:Ag的NPB(N,N’-bis(1-naphthyl)-N,N’-diphenyl-1,1’-biphenyl-4,4’-diamine)蓝色有机电致发光器件,利用Alq3的空穴阻挡能力及高的荧光效率优化了器件结构。具有不同厚度Alq3空穴阻挡层的器件性能测试结果表明,Alq3对器件发光亮度影响明显,选择适当的Alq3厚度可使得器件的发光亮度提高大约两倍。电致发光光谱测试结果表明,器件的发光基本来自NPB的蓝色发光,而Alq3扮演了辅助发光层的作用。
马敏辉贺琪
关键词:空穴阻挡层NPBALQ3
共1页<1>
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