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夏樊

作品数:2 被引量:4H指数:2
供职机构:北京理工大学光电学院更多>>
发文基金:国家部委预研基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 1篇电特性
  • 1篇离子辅助沉积
  • 1篇缓冲层
  • 1篇光电
  • 1篇光电特性
  • 1篇SIO
  • 1篇SNO
  • 1篇TIO

机构

  • 2篇北京理工大学

作者

  • 2篇喻志农
  • 2篇薛唯
  • 2篇李玉琼
  • 2篇夏樊
  • 1篇冷健
  • 1篇丁曌
  • 1篇赵志伟

传媒

  • 1篇光学学报
  • 1篇北京理工大学...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
SiO_2和TiO_2缓冲层对柔性ITO薄膜弯曲特性的影响被引量:2
2009年
讨论了柔性ITO薄膜在弯曲时导电能力失效的机理及影响因素.考察了SiO2和TiO2作为无机缓冲层的加入对于柔性ITO薄膜弯曲特性的影响.实验结果及分析表明,材料间的失配系数,结合力以及薄膜缺陷是影响ITO薄膜弯曲特性的主要因素.SiO2或TiO2无机缓冲层的加入降低了ITO薄膜抗内弯折临界半径;TiO2缓冲层能够明显增加ITO薄膜的耐弯折次数.
喻志农夏樊李玉琼薛唯赵志伟
关键词:缓冲层
无机缓冲层对柔性In_2O_3:SnO_2薄膜光电及耐弯曲性能影响的研究被引量:3
2010年
在室温条件下采用离子辅助沉积技术在柔性衬底上依次制备无机缓冲层及In_2O_3:SnO_2(ITO)薄膜,重点研究了不同无机缓冲层对柔性ITO薄膜光电及耐弯曲性能的影响。研究发现SiO_2,TiO_2,Ta_2O_5和Al_2O_3无机缓冲层对ITO薄膜的方阻、光学透射比、耐弯曲性能等机电特性影响各异:添加SiO_2缓冲层的ITO薄膜其方阻变化率最大,方阻降低率达29.8%,而添加Al_2O_3缓冲层的ITO薄膜其方阻变化率最小,方阻降低率仅为5.6%;添加Ta_2O_5缓冲层的ITO薄膜其可见光透射比最佳,平均透射比达85%以上,而添加SiO_2缓冲层的ITO薄膜其可见光透射比最差,但其平均透射比也高于80%;SiO_2在耐弯曲半径上对ITO薄膜的改善效果比TiO_2更佳,而当ITO薄膜以弯曲半径R=0.8 cm和R=1.2 cm发生内弯时,SiO_2对ITO薄膜耐弯曲次数性能的改善效果不及TiO_2。
李玉琼喻志农冷健薛唯夏樊丁曌
关键词:离子辅助沉积光电特性
共1页<1>
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