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李晓潮

作品数:6 被引量:3H指数:1
供职机构:重庆光电技术研究所更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 5篇CCD
  • 2篇电荷耦合
  • 2篇电荷耦合器
  • 2篇电荷耦合器件
  • 1篇电路
  • 1篇应力
  • 1篇预计方法
  • 1篇质子
  • 1篇质子辐照
  • 1篇温度应力
  • 1篇密封
  • 1篇静电保护
  • 1篇静电保护电路
  • 1篇酒精
  • 1篇可靠性
  • 1篇检漏
  • 1篇工作寿命
  • 1篇INGAAS

机构

  • 6篇重庆光电技术...

作者

  • 6篇李晓潮
  • 3篇吴琼瑶
  • 2篇李立
  • 1篇汪朝敏
  • 1篇翁雪涛
  • 1篇程顺昌
  • 1篇伍明娟
  • 1篇王微频
  • 1篇王钢荣

传媒

  • 2篇电子产品可靠...
  • 2篇中国检验检测
  • 1篇半导体光电
  • 1篇中国光学学会...

年份

  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 1篇2015
  • 2篇2012
  • 1篇2010
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
酒精粗检漏在CCD中的应用被引量:1
2012年
针对酒精粗检漏试验中所遇到的一些问题,阐述了应当采用何种手段来确保整个粗检漏试验过程中,不会因为干扰因素而对试验结果进行误判。
李晓潮王钢荣吴琼瑶程顺昌王微频
关键词:电荷耦合器件密封
高速InGaAs光电探测器可靠性寿命评估
2020年
随着航天应用高速InGaAs探测器的迅速发展,其可靠性问题日益突出,本文选择温度应力与光应力为加速应力,通过爱林模型与恒定应力加速寿命试验方法对XX型高速InGaAs探测器进行了研究,获得了InGaAs探测器在4种组合应力下的退化数据与寿命模型,进而推算出器件在正常工作状态下的寿命.
吴琼瑶李晓潮伍明娟李钦刘吉
关键词:INGAAS
一种4k×4k CCD的加速寿命试验方法
本文介绍了在样品数不足的情况下,如何对目标试验样品的寿命进行评价的方法。主要采用的方法是引用结构相似、样品数足够的产品的加速因子来作为目标样品的加速因子进行加速寿命试验。
李晓潮
关键词:温度应力
文献传递
一种CCD工作寿命预计方法被引量:1
2012年
介绍了一种适用于电荷耦合器件(CCD)的工作寿命预计方法。对CCD的失效模型进行了分析,并进行加速寿命试验,试验结果与理论分析结果较好地吻合。试验结果表明,对于一款成熟应用的CCD,其工作寿命值与其质量等级有直接的关系;质量等级越高的器件,其工作寿命值也越长。
李立李晓潮
关键词:电荷耦合器件工作寿命
一种CCD静电保护电路的设计被引量:1
2015年
介绍了一种适用于电荷耦合器件(CCD)的静电保护电路。在对该静电保护电路工作原理分析的基础上,通过电路仿真确定了静电保护电路中MOS管的电学参数,再由半导体器件仿真确定了其工艺条件,并按此条件制作了静电保护电路。通过人体模型静电放电试验对该静电保护电路进行测试,结果表明CCD的抗静电能力由原来的不足100V提高到450V。
李立翁雪涛李晓潮
关键词:CCD静电保护电路
国产CCD质子辐照的失效机理研究
2019年
针对国产XXX型CCD,开展了10MeV质子辐照损伤试验研究。本文介绍了质子辐照试验方法,分析了CCD在不同状态下质子辐照试验的损伤机理,确定了暗信号幅度为其敏感参数,并对暗信号的退化机理进行了分析。
吴琼瑶李钦汪朝敏李晓潮刘吉
关键词:质子辐照CCD
共1页<1>
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