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郑杏平

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：重庆光电技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇低温退火
  • 1篇电荷耦合
  • 1篇电荷耦合器
  • 1篇电荷耦合器件
  • 1篇栅介质
  • 1篇退火
  • 1篇吸杂
  • 1篇本征
  • 1篇本征吸杂
  • 1篇CCD

机构

  • 1篇重庆光电技术...

作者

  • 1篇陈捷
  • 1篇李平
  • 1篇李仁豪
  • 1篇韩恒利
  • 1篇汪琳
  • 1篇郑杏平
  • 1篇张故万
  • 1篇雷仁方
  • 1篇许宏

传媒

  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
消除CCD不良背景的工艺研究被引量：1
2008年
对电荷耦合器件(CCD)交流成像中存在的背景发白、亮条、亮点、拖影和固定图像噪声等不良背景进行了分析,并提出了调整栅介质生长方法、本征吸杂、低温退火等消除不良背景的具体工艺方法,获得了高质量的CCD器件。测试结果表明,其交流成像中的不良背景得到了有效控制。
李平郑杏平李仁豪雷仁方许宏韩恒利陈捷张故万汪琳
关键词：电荷耦合器件栅介质本征吸杂低温退火
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共1页<1>
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