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锁国权

作品数:2 被引量:4H指数:1
供职机构:北京科技大学冶金与生态工程学院更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇多晶
  • 1篇多晶硅
  • 1篇偏压
  • 1篇综合利用
  • 1篇微观结构
  • 1篇光电
  • 1篇光电性
  • 1篇光电性能
  • 1篇和光
  • 1篇副产品
  • 1篇ITO薄膜

机构

  • 2篇北京科技大学

作者

  • 2篇马瑞新
  • 2篇任磊
  • 2篇锁国权
  • 1篇李士娜

传媒

  • 1篇材料科学与工...
  • 1篇2010中国...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
多晶硅副产品SiCl4综合利用的研究
四氯化硅(SiCl4)是改良西门子工艺中的副产品,其产量高达10~15t/t多晶硅,可以说能否合理、有效地综合利用好SiCl4副产品对于多晶硅产业的健康发展生死攸关,本文分析了多晶硅生产过程中副产品四氯化硅的产生途径、四...
马瑞新李世娜锁国权任磊
关键词:多晶硅综合利用
偏压对ITO薄膜生长模式和光电性能的影响被引量:4
2012年
为明确溅射偏压对ITO薄膜性质的影响,用射频磁控溅射法于室温在玻璃衬底制备出ITO透明导电薄膜,研究了不同偏压下ITO薄膜的生长模式、光学和电学性能.结果表明:随着偏压的增加,薄膜沉积模式经历了沉积、沉积和扩散、表面脱附3种方式;AFM和SEM显示,偏压为100 V时,膜层表面光洁、均匀,粗糙度最小,均方根粗糙度为1.61 nm;XRD分析表明偏压会影响与薄膜的择优取向,偏压为100 V时,薄膜晶粒取向为(222)面;薄膜偏压为120 V时,薄膜的光电性能最佳,电阻率最低为2.59×10-4Ω.cm,可见光区的平均透过率在85%以上;偏压的大小使薄膜的吸收边发生了"蓝移"或"红移".
马瑞新李士娜锁国权任磊
关键词:ITO薄膜偏压微观结构光电性能
共1页<1>
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