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于学东

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇标准
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇应力
  • 1篇振动
  • 1篇热阻
  • 1篇综合应力
  • 1篇微波
  • 1篇微波组件
  • 1篇晶体管
  • 1篇晶体管阵列
  • 1篇冲击响应谱

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇于学东
  • 2篇李树杰
  • 2篇高金环
  • 2篇彭浩
  • 1篇黄杰
  • 1篇曹耀龙
  • 1篇徐立生

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 2篇2018
  • 1篇2006
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
微波组件冲击响应谱试验方法
本标准规定了微波组件冲击响应谱的一般要求、试验条件和试验程序等。本标准适用于微波组件的冲击响应谱试验。
曹田黄杰彭浩李树杰高金环于学东
微波组件温度-湿度-振动综合应力试验方法
本标准规定了微波组件温度-湿度-振动综合应力试验的试验程序和试验方法。本标准适用于微波组件进行温度-湿度-振动综合应力试验。
张天福彭浩于学东李树杰高金环徐鑫
对晶体管阵列热阻和电老炼相关技术的探讨
2006年
为解决在未知最大额定功耗的情况下进行电老炼的问题,提供了晶体管阵列热阻和电老炼的相关技术与方法,指出了如何利用热阻去推算最大功耗以及如何验证推算的正确性,最后给出了晶体管阵列老炼时应注意的问题。
曹耀龙于学东徐立生
关键词：晶体管阵列热阻
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共1页<1>
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