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刘鹏

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：西安电子科技大学微电子学院更多>>
发文基金：中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电压
  • 1篇电压测试
  • 1篇阈值
  • 1篇阈值电压
  • 1篇VDMOS

机构

  • 1篇西安电子科技...

作者

  • 1篇游海龙
  • 1篇贾新章
  • 1篇张宇
  • 1篇赵杨杨
  • 1篇刘鹏

传媒

  • 1篇微电子学

年份

  • 1篇2014
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
VDMOS栅引线脱落引起的阈值电压测试错误分析
2014年
讨论了栅引线脱落导致栅悬空条件下,VDMOS器件的电流传输过程。通过器件测试与仿真,指出栅引线脱落引起阈值电压测试错误的原因。提出一种将传统"两线法"与"三线法"相结合的阈值电压测试方法,避免栅引线脱落导致阈值电压测试的误判。
赵杨杨游海龙刘鹏张宇贾新章
关键词：VDMOS阈值电压
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共1页<1>
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