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徐立生

作品数：7 被引量：4H指数：1
供职机构：中国电子科技集团公司第十三研究所更多>>
相关领域：电子电信电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇会议论文
  • 2篇期刊文章

领域

  • 4篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 3篇晶体管
  • 2篇半导体
  • 1篇电子产品
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇电子器件
  • 1篇雪崩
  • 1篇雪崩不稳定性
  • 1篇雪崩击穿
  • 1篇宇航
  • 1篇照明
  • 1篇照明光源
  • 1篇质量水平
  • 1篇砷化镓
  • 1篇失效模式
  • 1篇通信
  • 1篇通信卫星
  • 1篇微波
  • 1篇微波场效应晶...
  • 1篇卫星
  • 1篇梁式引线法

机构

  • 6篇中国电子科技...
  • 1篇电子工业部

作者

  • 7篇徐立生
  • 1篇张万生
  • 1篇马素芝
  • 1篇高兆丰
  • 1篇谭宗新
  • 1篇赵敏
  • 1篇高金环

传媒

  • 2篇半导体情报
  • 1篇2009LE...
  • 1篇第十二届全国...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇中国电子学会...

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2007
  • 1篇2000
  • 2篇1999
  • 1篇1987
  • 1篇1985
共 7 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析
本文通过案例分析,对耿氏二极管经常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了讨论,并根据失效机理指出了避免以上失效应采取的一些措施,对该器件的制造商和使用者有一定的指导意义。
高兆丰高金环徐立生张士芬
关键词：耿氏二极管可靠性失效模式
文献传递
通信卫星用GaAs微波场效应晶体管可靠性快速评价技术被引量：3
1999年
叙述了一种快速评价ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管可靠性的方法， 利用该方法对ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管ＣＸ５６２
徐立生马素芝何建华
关键词：微波场效应晶体管通信卫星砷化镓
高频小功率管EB结雪崩击穿引起的hFE退化纠正措施
种常用的高频和超高频小功率管进行了EB结雪崩击穿后hFE退化的对比试验。高频小功率管hFE雪崩击穿的机理是明确的，产生雪崩退化的器件一般不会产生致命失效，其hFE值可以经退火而复原。在器件生产、筛选、质量考核和使用过程中...
徐立生
关键词：功率晶体管电子产品可靠性雪崩不稳定性
半导体照明光源可靠性的探讨
半导体照明光源一般是指用于照明的LED器件，广义而言则涵盖LED器件及其附加驱动或其它功能电路的模块、模组。在照明应用中LED模块、模组的可靠性至关重要，然而模块、模组中LED器件的工作寿命却是半导体照明光源可靠性的关键...
赵敏张万生徐立生
关键词：半导体照明照明光源
文献传递
电子元器件引线的可焊性及其评价
刘世华徐立生
关键词：电子器件可焊性梁式引线法
美国宇航级晶体管2N2905AL实物质量水平剖析
该文报道了对美国宇航级晶体管2N2905AL进行一系列试验和检测的结果，从而客观地反映了美国80年代初期制造的宇航级器件的实物质量水平。
谭守新丁凤霞徐立生
文献传递
美国宇航级晶体管2N2219AL实物质量水平剖析被引量：1
1999年
本文报道了对美国宇航级晶体管２Ｎ２２１９ＡＬ进行一系列试验和检测的结果。
徐立生谭宗新于学东
关键词：晶体管质量水平半导体器件
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