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谭宗新

作品数：2 被引量：5H指数：1
供职机构：电子工业部更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇质量水平
  • 2篇晶体管
  • 1篇宇航
  • 1篇可靠性
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件
  • 1篇AL

机构

  • 2篇电子工业部

作者

  • 2篇谭宗新
  • 1篇徐立生
  • 1篇徐立生

传媒

  • 1篇半导体情报
  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 2篇1999
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
美国宇航级晶体管2N2219 AL实物质量水平剖析被引量：4
1999年
本文报导了对美国宇航级晶体管２Ｎ２２１９ＡＬ进行一系列试验和检测的结果。
徐立生谭宗新于学东
关键词：质量水平晶体管可靠性
美国宇航级晶体管2N2219AL实物质量水平剖析被引量：1
1999年
本文报道了对美国宇航级晶体管２Ｎ２２１９ＡＬ进行一系列试验和检测的结果。
徐立生谭宗新于学东
关键词：晶体管质量水平半导体器件
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共1页<1>
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