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高金环

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团公司第十三研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇国内会议论文

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇失效模式
  • 1篇可靠性
  • 1篇耿氏二极管
  • 1篇二极管

机构

  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇高兆丰
  • 1篇徐立生
  • 1篇高金环

传媒

  • 1篇第十二届全国...

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析
本文通过案例分析,对耿氏二极管经常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了讨论,并根据失效机理指出了避免以上失效应采取的一些措施,对该器件的制造商和使用者有一定的指导意义。
高兆丰高金环徐立生张士芬
关键词：耿氏二极管可靠性失效模式
文献传递
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共1页<1>
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