罗雯
- 作品数：13 被引量：14H指数：2
- 供职机构：西安电子科技大学更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术理学一般工业技术更多>>
- VLSI老化模型参数热阻的研究被引量：1
- 2005年
- 从老化筛选模型入手,阐述了老化模型参数热阻的重要性。基于热阻测量原理,给出了常见的热阻测量方法,同时分析了各测量方法的优缺点。在此基础上提出了一种新颖的封装热阻估计实验方法,虽然不能精确地测量出国产VLSI的热阻值,但给出了一种国产VLSI封装热阻数据的获取方法。实验证明其具有较强的实用性,不失为一种国产VLSI热阻参数快速确定的工程技术。
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- 关键词：热阻VLSI
- VLSI老化筛选试验技术的挑战被引量：7
- 2004年
- 通过对集成电路老化试验技术的研究,指出了VLSI老化筛选试验技术仍然是集成电路产品质量和可靠性保障的重要手段。但是随着集成电路技术的飞速发展,老化技术面临许多有待解决的技术问题,从VLSI产品质量和可靠性保障的角度出发,急需制定可操作的VLSI老化试验技术规范。
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- 关键词：超大规模集成电路
- 适于矩阵求逆的超长指令集微处理系统
- 本发明公开了一种适于矩阵求逆的超长指令集微处理系统，主要解决现有的电路规模大，运算速度慢的问题。该系统包括：四组运算单元、全局寄存器单元、两组本地寄存器单元、数据地址产生单元、程序定序单元和数据输入/输出存储器单元，其中...
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- 文献传递
- 通用微处理器等效老化试验方法
- 2005年
- 针对不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路等效老化的需要,提取出了集成电路等效老化的特征参数—“归一化老化电流”指标α,并讨论了等效老化信号的确定方法。结合集成电路等效老化信号确定方法,以CPU486为研究对象,给出通用CPU等效老化试验方案,为评估和比较不同CPU的质量和可靠性提供了统一的试验平台。
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- 关键词：信号频率
- VLSI老化筛选试验技术的挑战
- 本文通过对集成电路老化试验技术的研究与分析,指出了VLSI老化筛选试验技术仍然是集成电路产品质量和可靠性保障的重要手段。但是随着集成电路技术的飞速发展,老化技术面临许多有待解决的技术挑战,从VLSI产品质量和可靠性保障的...
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- 关键词：可靠性
- 高加速应力试验用于倒装焊领域
- 2005年
- 倒装焊技术已被广泛地用于电子领域。对倒装焊而言,其焊点的可靠性、密封填充物与芯片或基板间的分层一直是特别重要的课题。介绍了一种加速环境试验——HAST,用于快速评价倒装焊接在FR-4基板上面阵列分布焊点的可靠性,试验结果说明HAST能够作为一个有效的可靠性试验评价工具用于倒装焊技术领域。
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- 关键词：倒装焊
- CPU技术发展及其可靠性评价研究被引量：6
- 2005年
- 本文通过对CPU工作原理的考察和对发展趋势的分析,得出CPU发生失效的几率越来越高,而且原因也越来越多,同时也指出老化筛选试验技术仍然是CPU质量和可靠性保障的重要手段。面对CPU飞速发展所带来的新问题,老化技术面临着许多有待解决的新的技术挑战,强调了制定可操作的CPU老化试验技术规范的紧迫性。
- 焦慧芳温平平贾新章罗雯王群勇
- 关键词：可靠性CPU技术
- 基于ASIP的参数可选RISC结构汇编器以及VLIW结构汇编器设计
- 在数字信号处理的应用中,采用像DSP或ASIC等传统处理器已不能满足用户同时在灵活性和高效性方面的要求。专用指令集处理器/(ASIP, Application Specific Instruction set Proce...
- 罗雯
- 关键词：专用指令集处理器指令级并行寄存器重命名
- 文献传递网络资源链接
- 通用微处理器等效老化试验方法
- 针对不同工艺、不同设计的同类集成电路等效老化的需要,提出了集成电路等效老化的特征参数--“归一化老化电流”指标a,并讨论了等效老化信号的确定原则。结合集成电路等效老化信号确定原则,以CPU486为研究对象,给出通用CPU...
- 焦慧芳温平平贾新章王群勇罗雯
- 关键词：信号频率
- 文献传递
- SOC系统设计技术
- 本文从SOC技术的基本概念和设计流程出发,介绍了SOC设计的关键技术,讨论了SOC在设计方法、工艺实现和性能测试等方面遇到的巨大挑战.同时以较重的笔墨,展望了SOC技术的发展,论述了SiP技术与SOC技术的关系及SIP的...
- 焦慧芳魏建中王群勇罗雯阳辉贾新章
- 关键词：SOCIP模块ASICSIP
- 文献传递
