焦慧芳
- 作品数：38 被引量：45H指数：3
- 供职机构：西安电子科技大学更多>>
- 发文基金：国家部委预研基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术理学一般工业技术更多>>
- SRAM数据残留现象的机理分析被引量：2
- 2008年
- 通过实验进行了SRAM数据残留机理的研究,建立了数据残留时间与温度的关系。确定了低温下非平衡载流子复合率及扩散速度的降低,是导致SRAM断电后数据残留的主要原因。同时进行了SRAM电参数与数据残留的相关性分析,排除了实验条件下热载流子效应对数据残留特性的影响。
- 焦慧芳张小波贾新章杨雪莹钟征宇
- 关键词：SRAM数据残留载流子复合热载流子效应
- 低压功放IC特性异常现象的模拟分析
- 2006年
- 在分析某低压功放集成电路功能原理的基础上,针对该电路成品测试中出现的特性异常现象,结合原理分析,采用模拟仿真的方法,分析、再现异常现象,确定了导致特性异常的原因,并通过对PCM测试图形的测试,验证了分析结论。
- 孟莹贾新章焦慧芳
- 关键词：肖特基二极管模型参数计算机模拟
- VLSI塑料封装失效分析与控制方法研究被引量：1
- 2005年
- 塑封VLSI由于其固有的弱点,在应用过程中封装失效成为其重要的失效模式之一。通过大量的塑封VLSI失效分析实践,针对VLSI塑料封装失效,进行了快速定位技术的研究,总结出一套简化的失效分析程序。同时从引起塑封VLSI封装失效的根本原因入手,探讨了避免塑封VLSI封装失效的控制方法。
- 焦慧芳贾新章王群勇
- 通用微处理器等效老化试验方法
- 2005年
- 针对不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路等效老化的需要,提取出了集成电路等效老化的特征参数—“归一化老化电流”指标α,并讨论了等效老化信号的确定方法。结合集成电路等效老化信号确定方法,以CPU486为研究对象,给出通用CPU等效老化试验方案,为评估和比较不同CPU的质量和可靠性提供了统一的试验平台。
- 焦慧芳温平平贾新章王群勇罗雯
- 关键词：信号频率
- 电子束测试系统的IFA应用技术被引量：1
- 1997年
- 本文阐述了电子束测试系统的图像失效分析技术（IFA）的起源与发展，详述了该方法的原理和优势，探讨了IFA的实现方法，并将IFA方法进行了实际应用，获得了有意义的结果。
- 焦慧芳费庆宇
- 关键词：VLSIIFA
- 通用微处理器等效老化试验方法
- 针对不同工艺、不同设计的同类集成电路等效老化的需要,提出了集成电路等效老化的特征参数--'归一化老化电流'指标a,并讨论了等效老化信号的确定原则.结合集成电路等效老化信号确定原则,以CPU486为研究对象,给出通用CPU...
- 焦慧芳温平平贾新章王群勇罗雯
- 关键词：微处理器CPU信号频率集成电路
- 文献传递
- 大规模集成电路的高低温测试技术被引量：8
- 2003年
- 介绍了大规模集成电路高低温测试系统的建立,介绍了热流系统的主要技术指标和实用性。重点讨论了集成电路高低温测试系统,实际应用的关键技术及几个应该注意的技术细节。
- 焦慧芳贾新章
- X1525可靠性评估电路单管失效机理的研究
- 1997年
- 对Ｘ１５２５可靠性评估电路中的单管进行了三组不同应力的可靠性试验及温度为１２５°Ｃ、１７５°Ｃ、２２５°Ｃ的功率负荷试验。试验结果表明，温度和电应力能够改变Ｘ１５２５评估电路中单管的电参数分布，最终使其趋于某一特定值。
- 焦慧芳张晓明陈光炳
- 关键词：集成电路可靠性
- 采用电子束探针测试(EBT)的IC单元设计验证技术被引量：1
- 2000年
- 本文用电子束探针测试技术对ＩＣ单元电路进行了设计验证，包括功能验证和延迟参数的验证。快速准确地完成了电路内部的故障定位，完成了输入、输出的延迟测量及内部数门的延迟测量，测试结果准确可信。这一技术尝试，为集成电路的设计验证开辟了新的领域。
- 焦慧芳于宗光
- 关键词：集成电路
- CMOS电路瞬态电流测试技术动态
- CMOS集成电路瞬态电流(I)测试技术自20世纪90年代提出以来,作为电压测试及静态电流(I)测试技术的必要补充,受到了人们的广泛关注.本文介绍了CMOS集成电路I测试技术基本原理和几个关键问题,探讨了I测试技术的研究进...
- 张鹏焦慧芳贾新章
- 关键词：CMOS电路电流测试
- 文献传递
