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文献类型

  • 2篇期刊文章
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领域

  • 2篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 3篇溅射
  • 3篇磁控
  • 3篇磁控溅射
  • 2篇氮化铝
  • 2篇氮化铝薄膜
  • 2篇折射率
  • 2篇溅射沉积
  • 2篇表面形貌
  • 2篇磁控溅射沉积
  • 1篇氮化
  • 1篇等离子体辅助
  • 1篇形貌
  • 1篇氧化铝薄膜
  • 1篇透过率
  • 1篇微观结构
  • 1篇光学
  • 1篇光学常数

机构

  • 2篇大连理工大学
  • 1篇长春理工大学
  • 1篇中国科学院

作者

  • 3篇公发权
  • 2篇贾莉
  • 2篇王振伟
  • 2篇刘升光
  • 2篇牟宗信
  • 2篇牟晓东
  • 1篇李刚
  • 1篇王锋
  • 1篇吕起鹏
  • 1篇金玉奇
  • 1篇孙龙

传媒

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  • 1篇2008年全...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2009
  • 1篇2008
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
中频脉冲磁控溅射沉积氮化铝薄膜及性能研究被引量:3
2009年
氮化铝薄膜在力学、光学、声学等领域有着广泛的应用前景.研究沉积条件对氮化铝薄膜的结构、性能的影响具有重要意义.采用纯铝溅射靶、在不同的N2流量比率条件下,采用中频脉冲磁控溅射在Si(001)衬底上制备出氮化铝薄膜.利用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、椭偏仪研究了N2流量比率对氮化铝薄膜的微观结构、表面形貌、厚度和折射率的影响.研究结果表明,氮化铝薄膜的微观结构、表面形貌、厚度和折射率与N2流量比率有明显的关系,当固定其它沉积条件时,改变N2流量比率会改变薄膜的沉积速率,当沉积速率发生突变时,薄膜的折射率、微观结构、表面形貌也发生相应的变化.在实验结果的基础上结合反应沉积的表面动力学因素分析了反应气体中N2流量比率对氮化铝薄膜的表面形貌、微观结构、厚度和折射率的影响原因.
牟宗信刘升光王振伟公发权贾莉牟晓东
关键词:氮化铝形貌折射率磁控溅射
中频脉冲磁控溅射沉积氮化铝薄膜及性能研究
氮化铝薄膜在力学、光学、声学等领域有着广泛的应用前景.研究沉积条件对氮化铝薄膜的结构、性能的影响具有重要意义. 采用纯铝溅射靶、在不同的N2流量比率条件下,采用中频脉冲磁控溅射在Si(001)衬底上制备出氮化铝薄膜.利用...
牟宗信刘升光王振伟公发权贾莉牟晓东
关键词:氮化铝薄膜磁控溅射微观结构表面形貌折射率
文献传递
欠氧化气氛下等离子体辅助脉冲直流磁控溅射高纯度Al_2O_3薄膜被引量:4
2014年
为实现高纯度氧化铝薄膜的快速稳定溅射沉积,采用非平衡闭合磁场孪生靶技术,利用脉冲直流磁控溅射方法,首先对溅射电压随氧流量的迟滞现象进行了研究,在此基础上,提出了一种新型的等离子体辅助溅射沉积方法。溅射过程处于迟滞回线的金属模式,保证了高的溅射速率;在真空室内引入一等离子体放电区,沉积在工件上的超薄层非化学计量比氧化铝薄膜,高速通过等离子体放电区时,放电区内解离的氧原子使得氧化铝薄膜被进一步氧化,同时放电区内的氩离子对薄膜进行轰击,增加了薄膜的致密性。利用该方法在不同等离子体功率下进行了氧化铝薄膜的制备,分别利用分光光度计、椭偏仪、原子力显微镜对薄膜的光学特性、表面形貌进行了表征,表征结果说明利用该等离子体辅助磁控溅射方法可获得高纯度的致密氧化铝薄膜。
李刚吕起鹏公发权王锋孙龙金玉奇
关键词:氧化铝薄膜透过率光学常数表面形貌
共1页<1>
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