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田耀亭

作品数：3 被引量：1H指数：1
供职机构：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇电路
  • 2篇集成电路
  • 1篇电源
  • 1篇稳压
  • 1篇稳压电源
  • 1篇金属
  • 1篇军用
  • 1篇混合集成电路
  • 1篇集成稳压电源
  • 1篇厚膜
  • 1篇厚膜导体

机构

  • 2篇西安微电子技...
  • 1篇中国航天科技...

作者

  • 3篇田耀亭
  • 1篇田树英
  • 1篇李自学

传媒

  • 2篇电子元器件应...
  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2004
  • 1篇2001
  • 1篇1996
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
厚膜导体的金属迁移研究
1996年
金属迁移能导致混合微电路发生灾难性失效。本文介绍一种简单易行的测试方法──水滴试验法，来测量厚膜电路的实际金属迁移率。用此方法测量时，发现Ｐｄ－Ａｇ导体的迁移率最大，Ｐｔ－Ａｕ导体的金属迁移率最小。并且应用电化学理论分析了Ｐｄ－Ａｇ导体的金属迁移过程．最后根据实验及分析，提出了抑制厚膜导体金属迁移的若干措施。
李自学田耀亭田树英
关键词：厚膜导体混合集成电路
军用集成稳压电源LWY9C烧毁失效研究
2004年
详细介绍集成稳压电源LWY9C烧毁失效的分析。通过各项模拟试验和内部分析,找到了造成失效的内在和外部原因,并提出切实可行的建议。
田耀亭
关键词：稳压电源集成电路
CMOS模拟开关的失效分析及使用可靠性被引量：1
2001年
本文结合CMOS模拟开关的特点,介绍了这类电路的失效分析方法。同时,在总结了大量失效分析案例的基础上,讨论了其有特殊的使用可靠性问题。并对使用中应注意的问题提出了建议。
田耀亭
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共1页<1>
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