您的位置: 专家智库 > >

仵建平

作品数:4 被引量:4H指数:2
供职机构:西安电子科技大学技术物理学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇低频噪声
  • 1篇电迁移
  • 1篇电子技术
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元件
  • 1篇电阻
  • 1篇电阻器
  • 1篇噪声
  • 1篇噪声来源
  • 1篇厚膜
  • 1篇厚膜电阻
  • 1篇薄膜电阻
  • 1篇DC/DC转...
  • 1篇G-R噪声
  • 1篇DC/DC

机构

  • 2篇西安电子科技...
  • 1篇中国航天科技...

作者

  • 2篇仵建平
  • 1篇庄奕琪
  • 1篇魏文彦
  • 1篇吴勇
  • 1篇杜磊

传媒

  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 2篇2006
4 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
镍铬薄膜电阻器噪声特性研究被引量:2
2006年
薄膜电阻器的低频噪声有别于常规电阻器的噪声特征,与其结构和工艺密切相关。通过溅射工艺生产的阻值为1.5k?镍铬薄膜电阻器分别在生产完成和1000h老化试验之后进行了低频噪声测量和分析得到器件低频噪声特征,结合电子元器件低频噪声理论探讨了器件中各种噪声成分的来源及产生机制并给出该镍铬薄膜电阻生产线降低噪声的工艺手段。并讨论了电迁移损伤对1/f噪声特征的影响,指出噪声的异常波动对电迁移损伤具有明确的指示作用。
吴勇杜磊庄奕琪魏文彦仵建平
关键词:电子技术低频噪声G-R噪声噪声来源电迁移
电阻及DC/DC转换器低频噪声检测技术
近年来,随着对电子元器件低频噪声的深入研究,人们发现噪声是电子元器件内部潜在缺陷的敏感反映。众所周知,大部分器件的失效都是由于器件制造或运行期间产生的潜在缺陷产生的。因此可以用电子元器件低频噪声来分析器件可靠性。目前这种...
仵建平
关键词:厚膜电阻薄膜电阻DC/DC转换器低频噪声电子元件
文献传递
共1页<1>
聚类工具0