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魏文彦

作品数：3 被引量：2H指数：1
供职机构：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信电气工程理学一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇低频噪声
  • 1篇电迁移
  • 1篇电子技术
  • 1篇电阻器
  • 1篇噪声
  • 1篇噪声来源
  • 1篇G-R噪声

机构

  • 1篇西安电子科技...
  • 1篇中国航天科技...

作者

  • 1篇仵建平
  • 1篇庄奕琪
  • 1篇魏文彦
  • 1篇吴勇
  • 1篇杜磊

传媒

  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 1篇2006
共 3 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
镍铬薄膜电阻器噪声特性研究被引量：2
2006年
薄膜电阻器的低频噪声有别于常规电阻器的噪声特征,与其结构和工艺密切相关。通过溅射工艺生产的阻值为1.5k?镍铬薄膜电阻器分别在生产完成和1000h老化试验之后进行了低频噪声测量和分析得到器件低频噪声特征,结合电子元器件低频噪声理论探讨了器件中各种噪声成分的来源及产生机制并给出该镍铬薄膜电阻生产线降低噪声的工艺手段。并讨论了电迁移损伤对1/f噪声特征的影响,指出噪声的异常波动对电迁移损伤具有明确的指示作用。
吴勇杜磊庄奕琪魏文彦仵建平
关键词：电子技术低频噪声G-R噪声噪声来源电迁移
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