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严军
作品数:
3
被引量:5
H指数:1
供职机构:
南京电子器件研究所
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发文基金:
电科院预研基金
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相关领域:
电子电信
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合作作者
谢自力
南京电子器件研究所
洛红
南京电子器件研究所
陈桂章
南京电子器件研究所
陈桂章
南京电子器件研究所
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3篇
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电子电信
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硅
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低真空
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化学气相淀积
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半导体技术
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锗
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CVD生长
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X
机构
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南京电子器件...
作者
3篇
洛红
3篇
谢自力
3篇
严军
2篇
陈桂章
1篇
陈桂章
传媒
1篇
半导体技术
1篇
半导体杂志
1篇
微电子学
年份
1篇
2001
1篇
2000
1篇
1999
共
3
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用于Si_(1-x)Ge_x异质结外延材料生长的高真空化学汽相外延炉
被引量:1
2000年
研制出满足 Si1 - x Gex 异质结薄膜材料生长工艺的高真空化学汽相外延炉 ,详述了该汽相外延设备的性能、结构组成和设计原理 ,并且给出了利用该设备生长 Si1 - x Gex 异质薄膜的实验结果。
谢自力
陈桂章
洛红
过海洲
严军
关键词:
异质结
硅
VLP/CVD低温硅外延
被引量:4
2001年
研究了 VLP/ CVD低温硅外延生长技术。利用自制的 VLP/ CVD设备 ,在低温条件下 ,成功地研制出晶格结构完好的硅同质结外延材料。扩展电阻、X射线衍射谱和电化学分布研究表明 ,在低温下 (T<80 0°C)应用 VLP/ CVD技术 ,可以生长结构完好的硅外延材料 ;
谢自力
陈桂章
洛红
严军
关键词:
硅
半导体技术
低温低真空CVD生长锗硅异质结外延材料
被引量:1
1999年
利用自行研制的超净低温低真空化学气相外延系统,应用锗烷和硅烷气体,在2 英寸到3英寸的衬底硅片上生长了锗硅异质结外延层。在665 ℃,610 ℃和575℃不同温度分别生长了Si0-8Ge0-2 ,Si0-5 Ge0-5 和Si0-65Ge0-35 的异质外延层,获得了原子级表面和界面的异质外延材料。结果表明:外延生长速率和Ge 组分由硅烷和锗烷的分压及生长时的温度控制。并利用X 射线双晶衍射,扩展电阻和电化学CV 法研究了GeSi
谢自力
陈桂章
洛红
过海洲
严军
关键词:
化学气相淀积
锗
硅
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