林宙峰
- 作品数：5 被引量：4H指数：1
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信机械工程化学工程更多>>
- 聚丙烯酸对BaTiO_3颗粒的分散及其机理研究
- 2008年
- 通过沉降实验及FT-IR分析,研究了分散剂PAA对BaTiO3颗粒的分散机理。结果表明:PAA电离的RCOO-吸附在BaTiO3颗粒表面形成的Ba-OH+2正电中心,产生静电稳定作用和空间位阻作用,从而使BaTiO3颗粒分散。当PAA加入量为0.3wt%,pH=10时,PAA完全电离,吸附达饱和,可以得到高分散、高稳定的浆料。
- 罗遂斌庄志强刘勇林宙峰
- 关键词：聚丙烯酸BATIO3
- SrTiO_3基高压陶瓷电容器材料的改性研究被引量：1
- 2008年
- 研究了Bi2O·33TiO2和MgTiO3的加入量对SrTiO3基高压陶瓷电容器材料性能的影响,并用扫描电子显微镜(SEM)对样品进行形貌观察。实验结果表明:加入适量的Bi2O·33TiO2能提高材料的介电常数和降低介质损耗,适量MgTiO3的加入改善了材料的温度特性,且其晶粒尺寸均匀。
- 林宙峰庄志强许英伟罗遂斌
- 关键词：SRTIO3MGTIO3陶瓷高压电容器
- 梳齿式MEMS加速度计在冲击下的失效分析被引量：1
- 2009年
- 对Si基梳齿式MEMS加速度计在冲击下进行了失效分析,验证了其主要失效模式,分析了其失效机理。通过机械冲击实验并采用扫描电镜(SEM)、X射线透视系统、扫描声学显微镜(SAM)观察及电性能测试等分析技术,研究了梳齿式MEMS加速度计在冲击载荷下的结构与封装失效,运用材料力学理论加以分析论证,发现悬臂梁断裂是较为主要的失效模式,且此类器件的封装失效主要表现为气密性失效和装配工艺失效,为MEMS器件的可靠性设计提供了重要依据。
- 林宙峰蔡伟徐爱斌庄志强
- 关键词：微电子机械系统加速度计
- 硅基梳齿式MEMS器件及封装的失效调查被引量：1
- 2011年
- 对典型硅基梳齿式MEMS器件进行失效调查和分析,验证其主要失效模式,分析其失效机理。利用电子扫描显微镜(SEM)、X射线透视系统、扫描声学显微镜(SAM)、X射线能谱成份分析(EDX)、金相切片分析、封装气体分析及电性能测试等分析技术,发现在工艺制造中的机械失效是造成此类器件失效的主要原因。另外,此类器件的封装失效主要表现为气密性失效和装配工艺失效。
- 蔡伟林宙峰李少平恩云飞
- 关键词：微机电系统封装失效模式
- 硅基梳齿式MEMS电容式加速度计的失效与DPA研究
- MEMS技术因其具有可大批量生产、成本低、功耗小及集成化等特点,其应用及市场日益增长,发展潜力巨大,而可靠性是MEMS器件能否成功应用的一个关键,因此开展MEMS可靠性研究具有重要意义。 在可靠性研究中,失效分析与破坏性...
- 林宙峰
- 关键词：微电子机械系统加速度计破坏性物理分析
- 文献传递
