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俞跃辉

作品数:146 被引量:71H指数:4
供职机构:中国科学院上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市自然科学基金国家科技重大专项更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术电气工程理学更多>>

文献类型

  • 86篇专利
  • 50篇期刊文章
  • 6篇会议论文
  • 3篇科技成果
  • 1篇学位论文

领域

  • 64篇电子电信
  • 8篇一般工业技术
  • 4篇电气工程
  • 4篇理学
  • 3篇金属学及工艺
  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇医药卫生

主题

  • 22篇SOI
  • 16篇离子注入
  • 16篇金属
  • 15篇功率器件
  • 14篇介质
  • 13篇电极
  • 12篇电路
  • 11篇栅介质
  • 11篇介质薄膜
  • 10篇石墨
  • 10篇石墨烯
  • 10篇退火
  • 9篇电压
  • 9篇
  • 9篇衬底
  • 8篇栅结构
  • 7篇钝化层
  • 7篇半导体
  • 6篇电学
  • 6篇源区

机构

  • 131篇中国科学院
  • 15篇中国科学院上...
  • 9篇温州大学
  • 8篇中国科学院大...
  • 6篇上海科技大学
  • 4篇苏州大学
  • 2篇复旦大学
  • 2篇中国科学技术...
  • 2篇中国科学院研...
  • 2篇中芯国际集成...
  • 1篇阿拉巴马大学
  • 1篇东北微电子研...
  • 1篇萨里大学
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇新思科技有限...

作者

  • 146篇俞跃辉
  • 106篇程新红
  • 50篇王中健
  • 48篇徐大伟
  • 46篇郑理
  • 41篇夏超
  • 34篇宋朝瑞
  • 29篇曹铎
  • 25篇沈玲燕
  • 24篇王谦
  • 21篇张栋梁
  • 19篇何大伟
  • 15篇贾婷婷
  • 13篇邹世昌
  • 9篇林成鲁
  • 8篇张有为
  • 8篇王曦
  • 8篇杨文伟
  • 7篇金星
  • 7篇宁振球

传媒

  • 10篇半导体技术
  • 8篇功能材料与器...
  • 6篇Journa...
  • 3篇稀有金属材料...
  • 3篇功能材料
  • 2篇科学通报
  • 2篇中国科学(A...
  • 2篇微处理机
  • 2篇压电与声光
  • 2篇电子科学学刊
  • 2篇2011’全...
  • 1篇哈尔滨工业大...
  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇物理学报
  • 1篇核技术
  • 1篇世界科学
  • 1篇红外与毫米波...
  • 1篇无机材料学报
  • 1篇微波学报
  • 1篇温州师范学院...

年份

  • 2篇2024
  • 2篇2023
  • 3篇2022
  • 4篇2021
  • 9篇2020
  • 5篇2019
  • 8篇2018
  • 10篇2017
  • 8篇2016
  • 7篇2015
  • 8篇2014
  • 8篇2013
  • 13篇2012
  • 13篇2011
  • 2篇2010
  • 2篇2009
  • 1篇2008
  • 3篇2007
  • 6篇2006
  • 4篇2005
146 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
真空磁过滤弧沉积碳氮薄膜的研究被引量:2
1997年
本文采用真空磁过滤弧沉积技术,在Si(111)、石英及Ti/C衬底上制备得到非晶碳氮(CNx)薄膜。采用卢瑟福背散射分析对薄膜的面密度及N含量进行定量计算。用紫外-可见透射光谱与红外反射光谱研究了薄膜的光学性能。结果表明:随着薄膜中氮含量的增加,碳氮薄膜的光学禁带宽度减小,红外反射率增加。另外,就不同氮气分压对薄膜结构的影响进行了研究。
陈智颖俞跃辉赵建平王曦周祖尧杨石奇柳襄怀施天生
关键词:光学性能碳氮薄膜FAD
一种高压模拟集成开关电路
本发明提供一种高压模拟集成开关电路,包括并联的第一、第二模拟子开关,所述第一模拟子开关包括第一n型DMOS管、第二n型DMOS管及第一驱动电路,所述第一n型DMOS管的源极连接第二n型DMOS管的源极,漏极连接电路输入端...
李新昌程新红吴忠昊张萌徐大伟羊志强俞跃辉
文献传递
Al_2O_3对应变SiGe上HfO_2薄膜的热稳定性和电学可靠性的影响(英文)
2011年
研究了阻挡层 Al2O3对应变 SiGe 上 HfO2薄膜的热稳定性和电学可靠性的影响。高分辨透射电镜(HRTEM)像表明,阻挡层使HfO2在 700 ℃温度下退火后仍然是非晶的。散能 X 射线谱(EDS)分析表明,阻挡层抑制了 Si 原子在 HfO2薄膜中的扩散。X 射线光电子谱(XPS)测试表明,阻挡层抑制了界面处 HfSiO 和 GeOx的生长。电学测试分析说明,带有阻挡层的 MIS 电容的电学性能得到提高,包括60Co γ射线辐射后较高的电容密度、较低的缺陷密度、以及较小的平带电压漂移。
徐大朋万里程新红何大伟宋朝瑞俞跃辉沈达身
关键词:HFO2AL2O3
电绝缘用ta-C薄膜的微观结构与电学特性
2003年
采用ta-C薄膜用于SOI结构中的绝缘层,在高温高功率器件中有很大的应用潜力。应用真空磁过滤弧源沉积(FAD)的方法制备了ta-C薄膜。通过AFM、non-RBS、IR、I-V、C-V等方法对薄膜的表面形貌、微观结构和电学性能进行了研究。研究表明,ta-C薄膜的sp^3键含量高达87%,且具有很高的表面光洁度(粗糙度低于0.5nm)及较好的电绝缘性能,击穿场强达到4.7MV/cm。
宋朝瑞俞跃辉邹世昌张福民王曦
关键词:微观结构电学特性电绝缘性能SOI
基于SOI衬底的高介电常数材料栅结构及其制备方法
本发明介绍了一种基于SOI衬底生长的可进行高温处理的高介电常数材料栅结构及其制备方法。该栅结构的制备与现有CMOS工艺中高温处理步骤相兼容。首先通过O<Sub>2</Sub>等离子体对SOI表面进行预处理,同时SOI衬底...
程新红徐大伟王中健何大伟宋朝瑞俞跃辉
文献传递
一种电流模比较器
本发明提供一种电流模比较器,所述电流模比较器用于接收第一路电流和第二路电流,输出比较结果电压信号。所述电流模比较器至少包括:第一差模电流产生电路,用于接收第一路电流和第二路电流,输出第一路电流和第二路电流的差值;第二差模...
张正民李建朋董春雷宁振球金星秦英安俞跃辉
文献传递
一种基于电流模的总线接收器
本实用新型提供一种基于电流模的总线接收器,所述总线接收器至少包括参考电压产生单元,用于产生总线信号的参考电压;第一电压电流转换单元,与所述参考电压产生单元相连,用于将所述参考电压转换成参考电流;第二电压电流转换单元,用于...
张正民董春雷李建朋金星宁振球俞跃辉
高阻硅基GaN晶片上MIS栅结构GaN HEMT射频器件研制被引量:1
2019年
5G通信中3.4~3.6 GHz是主要使用频段。GaN射频器件由于高频、低功耗、高线性度等优势,满足5G通信应用需求。文中在高阻硅基GaN外延片上研制了AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(High Electron Mobility Transistor, HEMT),并分析了金属-绝缘层-半导体(Metal-Insulator-Semiconductor,MIS)栅对器件直流和射频特性的影响。研究发现:相比于肖特基栅结构,MIS栅结构器件栅极泄漏电流减少2~5个数量级,漏极驱动电流能力和跨导提高10%以上;频率为3.5 GHz时,增益从1.5 dB提升到4.0 dB,最大资用增益从5.2 dB提升到11.0 dB,电流增益截止频率为8.3 GHz,最高振荡频率为10.0 GHz。
顾子悦吴灯鹏程新红刘晓博俞跃辉
关键词:高阻硅
一种全氮化镓集成功率转换模块
本发明涉及一种全氮化镓集成功率转换模块,包括低边驱动电路、高边驱动电路和半桥模块,所述半桥模块包括第一氮化镓功率器件和第二氮化镓功率器件,所述第一氮化镓功率器件的漏极连接高电压HV,源极连接所述第二氮化镓功率器件的漏极,...
程新红田宇飞王达郑理俞跃辉
SOI高压功率器件的制备方法
本发明提供的SOI高压功率器件的制备方法,其首先在SOI基板表面的部分区域形成第一氧化层,再去除所述第一氧化层以便形成凹陷区,然后在凹陷区形成第二氧化层,以便使第二氧化层的表面与SOI基板表面保持平齐,再在已形成第二氧化...
程新红王中健俞跃辉何大伟徐大伟夏超
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