张钢
- 作品数：5 被引量：5H指数：2
- 供职机构：华北光电技术研究所更多>>
- 相关领域：电子电信理学更多>>
- InSb晶体表面碟形坑缺陷被引量：2
- 2006年
- 文章用金相显微镜观察、统计了InSb晶片扩散前、后,经择优腐蚀后呈碟形坑的表面微缺陷。结果显示这类缺陷的一部分是InSb晶体原生缺陷,一部分由扩散诱生。分析后认为由扩散诱生这类缺陷的原因主要为晶片表面粘污,已证实清洗更洁净的晶片,能有效抑制扩散过程中诱生的这类缺陷。
- 杜红燕王淑艳张钢刘理天
- 关键词：INSB扩散
- UBM对红外焦平面器件互连结构可靠性的影响
- 金属In是用于红外焦平面器件互连的优质材料,它与器件芯片UBM(Under bump Metallurgy)的亲润性的好坏直接影响互连结构的可靠性.本文分析了互连结构中铟凸点与传统UBM(Cr、Au)中Au反应生成铟金化...
- 张钢代建宾
- 关键词：UBM红外焦平面器件互连结构器件芯片
- 文献传递
- 红外焦平面探测器快速启动影响因素分析被引量：3
- 2014年
- 采用红外焦平面探测器制导的近程导弹武器系统对响应时间有严格要求。本文从红外焦平面探测器的启动过程分析入手,对影响探测器启动时间的要素进行了分析。给定应用的情况下,合理的冷屏设计和快速制冷是解决红外探测器快速启动的关键。
- 刘泽巍张钢赵建忠
- 关键词：红外焦平面冷屏制冷器
- 红外焦平面器件互连技术分析
- 红外焦平面器件互连技术的优劣直接影响器件的电性能.控制互连工艺的质量尤为重要.本文对互连好的In柱阵列进行了一系列的试验,并运用物理手段进行了分析和讨论,这对确定互连技术的工艺参数提供了理论依据.
- 张钢刘豫东
- 关键词：焦平面器件
- 文献传递
- 红外焦平面器件互连结构分析
- 本文分析了影响红外焦平面器件铟柱互连结构可靠性的一些因素,通过对铟柱结构的物理分析,发现铟织构是使得铟柱结构剪切力小的重要原因,并寻找破坏或减少铟织构,提高焦平面器件互连结构的强度的方法.
- 张钢刘豫东代建宾
- 关键词：焦平面器件拉伸力极图红外光学器件
- 文献传递
