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卓敏

作品数:10 被引量:18H指数:3
供职机构:南京电子器件研究所更多>>
发文基金:微波毫米波单片集成电路与模块国家级重点实验室基金更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术机械工程理学更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 5篇会议论文

领域

  • 8篇电子电信
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇机械工程
  • 1篇理学

主题

  • 7篇溅射
  • 6篇磁控
  • 6篇磁控溅射
  • 3篇钛酸锶
  • 3篇钛酸锶钡
  • 3篇刻蚀
  • 3篇溅射制备
  • 3篇BST薄膜
  • 3篇MEMS
  • 3篇磁控溅射制备
  • 2篇压应力
  • 2篇应力
  • 2篇射频磁控
  • 2篇射频磁控溅射
  • 2篇钛酸锶钡薄膜
  • 2篇居里
  • 2篇居里温度
  • 2篇根切
  • 2篇工艺技术
  • 2篇BST

机构

  • 10篇南京电子器件...
  • 1篇东南大学
  • 1篇南京大学

作者

  • 10篇卓敏
  • 10篇朱健
  • 9篇张龙
  • 3篇陈辰
  • 3篇林立强
  • 2篇贾世星
  • 2篇吴璟

传媒

  • 2篇传感技术学报
  • 2篇第八届中国微...
  • 1篇中国机械工程
  • 1篇功能材料与器...
  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇中国微米纳米...
  • 1篇中国微米纳米...

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2008
  • 4篇2006
  • 4篇2005
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
磁控溅射制备低应力金属膜的工艺研究
本文研究了在磁控溅射中溅射气压、溅射电压(溅射功率)与金属Au、Ta薄膜应力的关系,分析了相关的机理,给出了一种用磁控溅射法制备低应力Au、Ta薄膜的方法,就应力的产生因素作了一些探讨.
张龙朱健吴璟卓敏陈辰
关键词:MEMS磁控溅射薄膜应力
文献传递
用于微惯性器件的ICP刻蚀工艺技术
在微惯性器件加工中,ICP深硅刻蚀技术主要用于梳齿结构的释放.工艺试验中的梳齿结构的最细线条尺寸为2μm,刻蚀深度为40μm,刻蚀的深宽比为20∶1,接近刻蚀设备A601E的加工极限.为了提高刻蚀精度,减小根切和底切效应...
卓敏贾世星朱健张龙
关键词:ICP刻蚀根切分步工艺
文献传递
Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3溅射靶材的烧制和性能分析
2008年
介绍了BST压电陶瓷靶的烧制方法,使用添加剂改善了Ba0.6Sr0.4TiO3靶材的结构和性能,解决了BST靶材热稳定性差的问题,同时优化了BST靶材的晶化效果,提高介电性能。实验通过XRD衍射和P-E试验分析了所制BST溅射靶的微结构和铁电特性。
张龙朱健卓敏
关键词:BST压电陶瓷
磁控溅射制备低应力金属膜的工艺研究
研究了在磁控溅射中溅射气压、溅射电压(溅射功率)与金属Au、Ta薄膜应力的关系,分析了相关的机理,给出了一种用磁控溅射法制备低应力Au、Ta薄膜的方法,就应力的产生因素作了一些探讨。
张龙朱健吴璟卓敏陈辰
关键词:MEMS磁控溅射压应力
文献传递
用于微惯性器件的ICP刻蚀工艺技术被引量:7
2006年
在微惯性器件加工中,ICP深硅刻蚀技术主要用于梳齿结构的释放.工艺试验中的梳齿结构的最细线条尺寸为2μm,刻蚀深度为40μm,刻蚀的深宽比为20∶1,接近刻蚀设备A601E的加工极限.为了提高刻蚀精度,减小根切和底切效应,本文介绍了一种实现微结构刻蚀的ICP分步工艺的新方法,采用不同的刻蚀工艺条件,初始阶段减小底切效应,减小线条损失,刻蚀的中间阶段保证刻蚀速度,刻蚀的最终阶段减小侧向刻蚀,提高结构释放的一致性.同时通过在刻蚀结构的背面生长200nm厚Al膜对等离子体的吸附作用减小了根切效应,提高了刻蚀的精度和结构释放的一致性.
卓敏贾世星朱健张龙
关键词:ICP刻蚀根切分步工艺
衬底同步加热溅射BST薄膜的研究
本文介绍了一种衬底同步加热射频磁控溅射制备BST(BaxSr1-xTiO3)薄膜的新方法,讨论了BST薄膜的晶化效果对介电常数的影响,分析了薄膜的居里温度和εr-V铁电性能.XRD测试结果表明制备的BST薄膜具有完整的钙...
张龙林立强朱健卓敏
关键词:射频磁控溅射钛酸锶钡薄膜居里温度
文献传递
SiN纳米梁谐振器的制造工艺研究
纳米梁谐振器是某一维度上的特征尺度小于100nm纳米级谐振器。纳米梁谐振器以其超小的体积与质量,超低的功耗,超高的灵敏度,体现了NEMS器件的优越性。纳米梁谐振器有望广泛应用于单电子电量、单分子质量等物理量的检测。高灵敏...
卓敏朱健刘梅贾世星
关键词:干法刻蚀电子束光刻
文献传递
衬底同步加热溅射BST薄膜的研究被引量:3
2006年
介绍了一种衬底同步加热射频磁控溅射制备BST(BaxSr1-xTiO3)薄膜的新方法,讨论了BST薄膜的晶化效果对介电常数的影响,分析了薄膜的居里温度和εr-V铁电性能.XRD测试结果表明制备的BST薄膜具有完整的钙钛矿晶体结构,相对介电常数超过150,介质击穿强度大于1.3MV/cm.使用这种方法不需要专门的退火工艺,就可以制备晶体结构完整的高介电常数BST薄膜.
张龙林立强朱健卓敏
关键词:射频磁控溅射钛酸锶钡薄膜居里温度
相对介电常数大于100的BST(钛酸锶钡)薄膜被引量:1
2005年
张龙朱健林立强卓敏
关键词:相对介电常数BST薄膜磁控溅射
磁控溅射制备低应力金属膜的工艺研究被引量:7
2005年
研究了在磁控溅射中溅射气压、溅射电压(溅射功率)与金属Au、Ta薄膜应力的关系,分析了相关的机理,给出了一种用磁控溅射法制备低应力Au、Ta薄膜的方法,就应力的产生因素作了一些探讨。
张龙朱健吴璟卓敏陈辰
关键词:MEMS磁控溅射压应力
共1页<1>
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