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赵敏

作品数：16 被引量：7H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
相关领域：电子电信电气工程更多>>

合作作者

领域

  • 6个电子电信
  • 4个电气工程
  • 3个机械工程
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  • 1个经济管理
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  • 1个金属学及工艺
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  • 1个航空宇航科学...
  • 1个环境科学与工...
  • 1个农业科学
  • 1个文化科学

主题

  • 6个可靠性
  • 5个多芯片
  • 5个失效模式
  • 5个热阻
  • 5个热阻测试
  • 5个芯片
  • 5个加速寿命试验
  • 4个电压
  • 4个照明
  • 4个正向电压
  • 4个贴片
  • 4个贴片式
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  • 3个灯座
  • 3个电极
  • 3个电学法
  • 3个影响因素
  • 3个双界面
  • 2个氮化镓
  • 2个导热性

机构

  • 5个中国电子科技...
  • 4个国家半导体器...
  • 1个质量检验中心

资助

  • 1个国家自然科学...
  • 1个河北省自然科...

传媒

  • 5个信息技术与标...
  • 5个第十二届全国...
  • 5个第十二届全国...
  • 4个半导体技术
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  • 3个中国照明电器
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  • 3个第十四届全国...
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  • 1个电子测试
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  • 1个物理
  • 1个电子质量
  • 1个现代显示
  • 1个中国科技成果

地区

  • 6个河北省
共 6 条 记 录，以下是 1-6
张万生
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所
研究主题：LED 功率LED 封装 固体光源 芯片
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
黄杰
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所
研究主题：加速寿命试验 测试夹具 半导体器件 功率LED 硅
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
刘东月
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所
研究主题：发光二极管 半导体器件 热阻 测试夹具 热阻测试
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
茹志芹
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所
研究主题：热阻 半导体器件 测试夹具 SMD封装 失效模式
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
安国雨
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所
研究主题：安检 存储介质 安检系统 开关阵列 半平面
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
徐立生
供职机构：国家半导体器件质量监督检验中心
研究主题：加速寿命试验 功率LED 半导体器件 可靠性 可焊性
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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