徐立生
- 作品数：19 被引量：41H指数：4
- 供职机构：国家半导体器件质量监督检验中心更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 国产半导体器件长期贮存试验研究被引量：5
- 2010年
- 分析了在北方实验室条件下,贮存25年的国产商用高频小功率晶体管的特性与可靠性,通过对10批共1 460只器件的试验、检测,并与25年前的原始数据进行对比分析,发现了贮存器件存在直流放大倍数(HFE)退化、内引线开路、外引线可焊性失效三种失效模式,并对其失效原因、失效机理进行了分析。在考虑到现代技术可以消除的因素(用充干N2封装或已焊接使用),预计80年代的国产商用高频小功率晶体管贮存失效率水平小于10-7。用贮存25年的实物揭示了国产半导体器件贮存存在的主要失效模式,为国产半导体器件提高贮存可靠性提供了真实可靠的依据。
- 高兆丰童亮高金环徐立生
- 关键词：可靠性失效率可焊性水汽含量
- 多芯片贴片式LED器件结温测量
- 2013年
- 结温是多芯片LED器件热性能的关键参数。以SMD5050 LED器件为例,研究了多芯片贴片式LED器件结温测量方法。SMD5050 LED是一种多芯片贴片式封装的LED器件,器件内封装有3颗芯片,3颗芯片之间并联。根据单芯片LED器件热阻测试原理,模拟SMD5050 LED器件正常工作时的状态,对SMD5050 LED器件的结温进行了测量,并根据LED芯片特性,验证了测量结果的准确性,这种方法适用于封装结构相似的其他多芯片LED器件结温的测量。
- 刘东月彭浩茹志芹黄杰徐立生
- 关键词：多芯片结温
- 半导体器件结到壳热阻测试研究被引量：2
- 2016年
- 到壳热阻是衡量半导体器件热性能的重要参数。详细介绍了将半导体器件外壳表面与外部热沉相接触时,从半导体的热耗散结到封装外壳表面的一维热传导路径下,用瞬态双界面法进行结到壳热阻Rth(J-C)测量的方法。阐述了双界面测试法中存在的若干现象与问题,分析了该方法中加热功率、被测件外壳温度控制以及施加加热功率的时间长短对测试结果产生影响的原因,并针对各个问题和影响因素提出了相应的解决办法及合理建议,以获得更为准确且更具有应用性和指导性的热阻测试结果。
- 彭浩茹志芹张瑞霞刘东月徐立生
- 关键词：半导体器件影响因素
- 国产半导体器件长期贮存试验研究
- 本文通过对北方实验室条件下贮存25年的国产商用高频小功率晶体管进行研究.找到三种失效模式.考虑到现代技术可消除的因素(或已焊接使用),计算预计80年代的国产商用器件储存失效率水平小于10-7/h.
- 高兆丰高金环徐立生
- 关键词：可靠性失效率可焊性水汽含量半导体器件
- 文献传递
- LED加速寿命试验方法的研究被引量：6
- 2009年
- 给出了一种缩短试验时间求取LED平均寿命的方法,利用"亚玛卡西"的发光管光功率缓慢退化公式。由退化系数求得不同应力温度下LED失效时间,再用数值解析法得到正常温度应力下的LED平均寿命。
- 赵敏张万生徐立生
- 关键词：LED
- 国产功率LED的一种新的失效模式
- 对国产1 W大功率LED器件进行加速寿命试验时发现,在试验过程中发现了一种新的失效模式,即随着时间增加,正向电压V_F逐渐变大。对以前做过加速寿命试验的大功率LED器件的数据进行了整理,发现只有国产封装的大功率LED器件...
- 黄杰刘东月彭浩茹志芹徐立生
- 关键词：大功率LED加速寿命试验
- 文献传递
- LED应用产品的平均寿命评估方法被引量：2
- 2013年
- 平均寿命是LED应用产品可靠性的重要参数之一,也是LED可靠性研究的重点,但LED的可靠性评测并非易事。针对LED应用产品可靠性评估的问题,对电子行业的可靠性概念进行了简要介绍。对LED应用产品的失效模式和失效机理进行分析和研究,提出了采用定时截尾试验的点估计和区间估计方法,通过此方法来有效地评估LED应用产品的平均寿命。在求得平均寿命后,计算平均寿命的倒数即可得到该产品的失效率。该方法可以在较短的时间内方便、有效地对LED应用产品的平均寿命指标进行评估,从而避免一些标准要求较长的试验时间给生产企业带来的困扰。
- 和倩赵敏徐立生
- 关键词：发光二极管(LED)可靠性平均寿命点估计
- 国产功率LED的一种新的失效模式
- 对国产1W大功率LED器件进行加速寿命试验时发现，在试验过程中发现了一种新的失效模式，即随着时间增加，正向电压VF逐渐变大。对以前做过加速寿命试验的大功率LED器件的数据进行了整理，发现只有国产封装的大功率LED器件存在...
- 黄杰刘东月彭浩茹志芹徐立生
- 关键词：大功率LED加速寿命试验
- 文献传递
- 高亮发光二极管寿命评价被引量：9
- 2009年
- 高亮发光二极管广泛应用于户外显示屏、交通灯、汽车灯及电子设备和工业设备指示灯等方面,因其具有体积小、功耗低、寿命长、反映速度快、适合量产等诸多优点,因而使用市场巨大,对其寿命评价尤显意义重大。通过温度应力的加速寿命试验对某高亮型LED的平均寿命进行了快速评价,设计采取单一加速应力的试验方法,通过建立加速模型,进行加速试验,采用退化系数解析法进行数据处理,最终得到了室温下该高亮型LED的平均寿命。
- 闫德立高金环高兆丰徐立生
- 关键词：发光二极管光通量平均寿命
- 照明用功率LED的加速寿命试验被引量：4
- 2009年
- 阐述了照明用功率发光二极管(LED)的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验方法来评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分别对LUMILEDS公司1 W白光LED和CREE公司1 W蓝光LED的使用寿命进行了评估。
- 高兆丰曹耀龙高金环黄杰徐立生
- 关键词：功率发光二极管加速寿命试验激活能使用寿命
