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刘家璐
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28
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H指数:4
供职机构:
西安电子科技大学
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电子电信
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合作作者
张廷庆
骊山微电子研究所
张正选
西安电子科技大学
赵元富
骊山微电子研究所
王剑屏
西安电子科技大学微电子学院微电...
刘传洋
西安电子科技大学微电子学院微电...
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张廷庆
供职机构:西安电子科技大学
研究主题:离子注入 BF MOS器件 多晶硅栅 锑化铟
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张正选
供职机构:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
研究主题:SOI 总剂量辐射效应 MOS器件 绝缘体上硅 总剂量效应
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赵元富
供职机构:西安电子科技大学
研究主题:单粒子 电路 电离辐射 电离辐照 F
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王剑屏
供职机构:中芯国际集成电路制造有限公司
研究主题:碳化硅 MOS器件 金属-氧化物-半导体器件 辐照效应 阈值电压漂移
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刘传洋
供职机构:西安电子科技大学
研究主题:MOS器件 金属-氧化物-半导体器件 辐照效应 阈值电压漂移 低剂量率
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何宝平
供职机构:西北核技术研究所
研究主题:总剂量效应 总剂量 辐照 测试系统 MOS器件
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李建军
供职机构:西安电子科技大学
研究主题:多晶硅栅 FDMA QPSK调制解调 BF 电磁散射
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彭宏论
供职机构:西北核技术研究所
研究主题:总剂量效应 MOS器件 半导体器件 辐照效应 大规模集成电路
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徐娜军
供职机构:西北核技术研究所
研究主题:辐照 电子系统 MOS器件 辐照效应 阈值电压漂移
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姚育娟
供职机构:西北核技术研究所
研究主题:MOS器件 总剂量效应 半导体器件 辐照效应 大规模集成电路
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