孙宇
- 作品数：3 被引量：4H指数：2
- 供职机构：工业和信息化部电子第五研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术自动化与计算机技术电气工程更多>>
- 新型RHBD抗多节点翻转锁存器设计被引量：2
- 2021年
- 在纳米数字锁存器中,多节点翻转(multiple-node upset,MNU)正持续增加.虽然现有基于互连单元的抗辐射加固设计(radiation hardening by design,RHBD)的锁存器可以恢复所有MNU,但是需要更多的敏感节点和晶体管.为了在获得高可靠性的同时降低硬件开销,提出利用辐射翻转机制进行加固的方法.首先,通过使用屏蔽晶体管减少敏感节点,进而降低使用的晶体管数;然后,将2个单元内的上拉晶体管进行交叉互连,从而构造出一个可抗MNU翻转的RHBD锁存器.在65 nm工艺下,与现有基于互连技术的RHBD锁存器相比,提出的RHBD锁存器可平均减少12.82%的面积,319.22%的延迟和10.66%的功耗.
- 郭靖李强宿晓慧孙宇
- 关键词：纳米集成电路锁存器
- 三结太阳电池低频噪声特性与可靠性表征研究
- 2022年
- 以GaInP/InGaAs/Ge三结太阳电池为研究对象,通过宽范围电流偏置条件下的低频噪声测试和高温应力试验,对三结太阳电池的低频噪声特性和可靠性表征进行研究分析。结果表明,三结太阳电池的低频噪声包括1/f噪声和G-R噪声。在宽范围电流偏置条件下,低频噪声随偏置电流呈先增大后减小的规律,并在频率为500 Hz时出现G-R噪声特征。高温应力试验后,太阳电池在小电流偏置条件下的低频噪声明显增大,与器件暗I-V特性的变化一致,归因于热应力诱发的器件缺陷。相对于单频点噪声参数,宽频带噪声参数可更准确稳定地表征太阳电池可靠性。
- 余永涛孙宇王小强罗宏伟罗军肖文杰
- 关键词：太阳电池噪声可靠性偏置电流
- 基于RFEM的电子元器件技术状态更改风险评估被引量：2
- 2023年
- 电子元器件技术状态更改是研发制造型企业在产品设计、生产和维护中经常碰到的问题。研制单位对生产加工的部分环节如关键原材料、工艺等进行更改时,往往未对该技术状态更改的效果进行专业的风险评估,从而导致更改的效果不佳,影响产品质量。针对电子元器件技术状态更改的不确定性,基于风险因子模糊评价法(RFEM),计算风险概率和风险后果影响程度来确定更改的风险情况,从而为电子元器件技术状态更改采取相应的风险控制提供了科学的决策依据。
- 江凯肖梦燕黄鹏孙宇周帅王小强王斌
- 关键词：电子元器件风险评估
