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鄢容

作品数：14 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院合肥物质科学研究院更多>>
相关领域：文化科学电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 14篇中文专利

领域

  • 5篇文化科学
  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 7篇托卡马克
  • 6篇聚变
  • 4篇托卡马克装置
  • 3篇等离子体
  • 2篇等离子体参数
  • 2篇等腰
  • 2篇等腰三角形
  • 2篇低能
  • 2篇电流
  • 2篇电流反馈
  • 2篇碟片
  • 2篇真空室
  • 2篇真空系统
  • 2篇针孔
  • 2篇石英晶体
  • 2篇石英晶体微天...
  • 2篇台阶孔
  • 2篇探针
  • 2篇体表面
  • 2篇前级

机构

  • 14篇中国科学院合...

作者

  • 14篇陈俊凌
  • 14篇鄢容
  • 10篇丁锐
  • 10篇穆磊
  • 1篇周鹏飞

年份

  • 1篇2024
  • 5篇2023
  • 3篇2022
  • 2篇2020
  • 3篇2017
共 14 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种基于卷积神经网络的托卡马克第一镜沉积杂质监测方法
本发明涉及一种基于卷积神经网络的托卡马克第一镜沉积杂质监测方法，使用光谱仪实时采集聚变装置内低压射频条件下托卡马克第一镜表面材料溅射并电离的等离子体光谱数据，针对第一镜表面不同溅射材料对应的不同波长和强度的等离子体光谱数...
鄢容徐苏穆磊刘玉明陈俊凌
一种电子倍增管的电流反馈保护方法及系统
本发明涉及一种电子倍增管的电流反馈保护方法及系统，包括接收、转换、放大、采集电子倍增管的阳极电流信号，与额定安全电流阈值比较以控制可编程控制器PLC的输出，生成PLC控制信号，用来控制电机转动带孔圆形碟片，碟片上环向均布...
穆磊丁锐刘牛先彭姣鄢容张渝陈俊凌
一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架
本发明公开了一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，包括底座、固定压板、套筒和挡板。底座与固定压板均呈圆柱形，底座用于整个辐照样品架与托卡马克装置中样品板的固定；固定压板开有台阶圆孔，用于嵌装样品；套筒呈圆环形...
刘牛先丁锐穆磊彭姣鄢容陈俊凌
一种托卡马克第一镜综合清洗平台
本发明公开了一种托卡马克第一镜综合清洗平台，包括真空系统、等离子体放电系统、激光清洗系统。本发明将等离子体清洗和激光综合到同一真空室，可利用等离子体放电的真空环境进行激光清洗，实现在真空环境下对第一镜进行激光清洗，并可利...
彭姣鄢容陈俊凌
文献传递
一种用于托卡马克装置上的低能中性粒子分析仪的双探测器结构
本发明提供一种用于托卡马克装置上的低能中性粒子分析仪的双探测器结构，包括电子倍增管A和前级靶A、电子倍增管B和前级靶B以及一个脉冲高压电源。两个前级靶在飞行管道轴线上下方前后放置，并与飞行管道轴线成一定夹角，经定狭缝在等...
穆磊丁锐刘牛先彭姣鄢容王保国陈俊凌
一种辅助石英晶体微天平用于第一壁材料腐蚀研究的套筒
本发明公开了一种辅助石英晶体微天平用于第一壁材料腐蚀研究的套筒，包括有异内径金属圆筒，绝缘底座和高压电源，异内径金属圆筒嵌入绝缘底座后一起安装在探头表面，并利用高压电源在异内径金属圆筒上维持正偏压。套筒可以在石英晶体前方...
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一种托卡马克磁阴影区杂质总沉积速率的测量方法及系统
本发明涉及一种托卡马克磁阴影区杂质总沉积速率的测量方法及系统。首先，通过低能中性粒子分析仪、石英晶体微天平测量磁阴影区中性粒子能谱、材料净腐蚀或净沉积速率。其次，基于石英晶体微天平的测量结果，先选择对应的溅射产额结合中性...
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一种用于研究核聚变材料腐蚀沉积的辐照样品支架
本发明公开了一种用于研究核聚变材料腐蚀沉积的辐照样品支架，包括有支架底座和固定压板，支架底座呈三棱柱形且截面为等腰三角形，支架底座的两个相同侧面为左右对称的离子侧和电子侧表面，支架底座的离子侧和电子侧表面上分别开有方形槽...
穆磊丁锐鄢容陈俊凌
文献传递
一种用于托卡马克装置上的低能中性粒子分析仪的双探测器结构
本发明提供一种用于托卡马克装置上的低能中性粒子分析仪的双探测器结构，包括电子倍增管A和前级靶A、电子倍增管B和前级靶B以及一个脉冲高压电源。两个前级靶在飞行管道轴线上下方前后放置，并与飞行管道轴线成一定夹角，经定狭缝在等...
穆磊丁锐刘牛先彭姣鄢容王保国陈俊凌
一种利用机器学习实时识别偏滤器充氮脱靶状态的方法
本发明公开了一种利用机器学习实时识别偏滤器充氮脱靶状态的方法，在磁约束聚变实验装置运行期间，通过可见相机结合氮滤波片实现对特定氮的发射谱线的观测，进而实现对偏滤器充氮状态的辐射变化过程进行监测，将观测到的不同状态进行识别...
王保国周鹏飞朱大焕丁锐陈俊凌鄢容何春宇
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