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李军求

作品数：7 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子产品可靠性与环境试验研究所更多>>
相关领域：文化科学更多>>

合作作者

文献类型

  • 7篇中文专利

领域

  • 1篇文化科学

主题

  • 4篇预设
  • 4篇排序
  • 3篇FPGA器件
  • 3篇测试系统
  • 2篇电路
  • 2篇性能评价
  • 2篇时钟
  • 2篇时钟频率
  • 2篇时钟信号
  • 2篇数据传输
  • 2篇数据传输模块
  • 2篇综合性能
  • 2篇摸高
  • 2篇集成电路
  • 2篇交流参数
  • 2篇存储资源
  • 1篇配置信息
  • 1篇接口
  • 1篇接口连接
  • 1篇处理器

机构

  • 7篇中国电子产品...

作者

  • 7篇罗宏伟
  • 7篇王小强
  • 7篇李军求
  • 7篇罗军
  • 5篇唐锐
  • 2篇蔡志刚
  • 2篇刘焱

年份

  • 1篇2020
  • 2篇2019
  • 1篇2018
  • 3篇2017
共 7 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
FPGA器件测试系统及方法
本发明涉及一种FPGA器件测试系统及方法，其中，FPGA测试系统包括处理器，第一资源测试板，以及第二资源测试板；处理器通过第一接口连接第一资源测试板，通过第二接口连接第二资源测试板；处理器在检测到待测试FPGA器件连接第...
罗宏伟王小强罗军唐锐李军求
文献传递
FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置
本发明涉及一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价和装置，该方法包括：根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与第一性能指标对应的第一摸高性能值...
罗军罗宏伟王小强唐锐蔡志刚李军求
文献传递
集成电路的综合性能评价方法和装置
本发明涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置，该方法包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电...
罗军罗宏伟刘焱李军求王小强
文献传递
FPGA存储资源测试系统、方法及装置
本发明涉及FPGA存储资源测试系统、方法及装置。所述系统包括时钟管理模块、数据激励模块、跨时钟域数据传输模块、数据比较模块以及结果显示模块；所述时钟管理模块用于向所述数据激励模块和结果显示模块提供第一时钟信号，以及向所述...
罗军罗宏伟李军求王小强唐锐
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集成电路的综合性能评价方法和装置
本发明涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置，该方法包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电...
罗军罗宏伟刘焱李军求王小强
FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置
本发明涉及一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价和装置，该方法包括：根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与第一性能指标对应的第一摸高性能值...
罗军罗宏伟王小强唐锐蔡志刚李军求
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FPGA存储资源测试系统、方法及装置
本发明涉及FPGA存储资源测试系统、方法及装置。所述系统包括时钟管理模块、数据激励模块、跨时钟域数据传输模块、数据比较模块以及结果显示模块；所述时钟管理模块用于向所述数据激励模块和结果显示模块提供第一时钟信号，以及向所述...
罗军罗宏伟李军求王小强唐锐
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