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王小强
作品数:
14
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供职机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所
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相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
金属学及工艺
文化科学
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合作作者
罗军
中国电子产品可靠性与环境试验研...
罗宏伟
中国电子产品可靠性与环境试验研...
李军求
中国电子产品可靠性与环境试验研...
孙宇
中国电子产品可靠性与环境试验研...
唐锐
中国电子产品可靠性与环境试验研...
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金属学及工艺
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自动化与计算...
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文化科学
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受力
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数据传输
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数据传输模块
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托架
机构
14篇
中国电子产品...
作者
14篇
王小强
13篇
罗军
10篇
罗宏伟
7篇
孙宇
7篇
李军求
5篇
唐锐
4篇
刘焱
2篇
蔡志刚
1篇
陈广聪
1篇
范剑锋
1篇
唐莎
年份
4篇
2020
2篇
2019
3篇
2018
5篇
2017
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导航接收机伪距差分定位精度测试方法与系统
本发明提供一种导航接收机伪距差分定位精度测试方法与系统,获取伪距修正量信息,根据预设移动轨迹,移动采集导航信号并存储,根据预设时间间隔,先后将采集到的导航信号以及伪距修正量信息导入待测导航接收机,获取待测导航接收机计算得...
孙宇
王小强
罗宏伟
陈广聪
范剑锋
唐莎
文献传递
PCB板试验架和PCB板试验方法
本发明公开了一种PCB板试验架和PCB板试验方法,所述PCB板试验架包括组架和托架。组架包括第一支撑体和与第一支撑体对应设置的第二支撑体,第一支撑体上间隔设置多个第一支承板,第二支撑体上间隔设置多个第二支承板,第一支承板...
王小强
江凯
罗军
孙宇
郑大勇
文献传递
FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置
本发明涉及一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价和装置,该方法包括:根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标;获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与第一性能指标对应的第一摸高性能值...
罗军
罗宏伟
王小强
唐锐
蔡志刚
李军求
文献传递
集成电路的综合性能评价方法和装置
本发明涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置,该方法包括:获取N个待测集成电路的相关参数的测量值,并基于测量值得到基本项分值和附加项分值;若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值,则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电...
罗军
罗宏伟
刘焱
李军求
王小强
文献传递
夹具、夹具对及拉伸装置
本发明公开了一种夹具、夹具对及拉伸装置,所述夹具用于固定样件,包括:基座和与基座可拆卸连接的夹板,所述夹板包括用于抵推样件的抵推部和与抵推部连接的夹持部,所述夹持部的壁面为平滑的圆弧面,且所述夹持部的壁面与样件的外廓匹配...
吕宏峰
王小强
邓传锦
孙宇
罗军
刘焱
FPGA存储资源测试系统、方法及装置
本发明涉及FPGA存储资源测试系统、方法及装置。所述系统包括时钟管理模块、数据激励模块、跨时钟域数据传输模块、数据比较模块以及结果显示模块;所述时钟管理模块用于向所述数据激励模块和结果显示模块提供第一时钟信号,以及向所述...
罗军
罗宏伟
李军求
王小强
唐锐
文献传递
FPGA器件测试系统及方法
本发明涉及一种FPGA器件测试系统及方法,其中,FPGA测试系统包括处理器,第一资源测试板,以及第二资源测试板;处理器通过第一接口连接第一资源测试板,通过第二接口连接第二资源测试板;处理器在检测到待测试FPGA器件连接第...
罗宏伟
王小强
罗军
唐锐
李军求
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集成电路的综合性能评价方法和装置
本发明涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置,该方法包括:获取N个待测集成电路的相关参数的测量值,并基于测量值得到基本项分值和附加项分值;若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值,则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电...
罗军
罗宏伟
刘焱
李军求
王小强
PCB板试验架和PCB板试验方法
本发明公开了一种PCB板试验架和PCB板试验方法,所述PCB板试验架包括组架和托架。组架包括第一支撑体和与第一支撑体对应设置的第二支撑体,第一支撑体上间隔设置多个第一支承板,第二支撑体上间隔设置多个第二支承板,第一支承板...
王小强
江凯
罗军
孙宇
郑大勇
FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置
本发明涉及一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价和装置,该方法包括:根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标;获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与第一性能指标对应的第一摸高性能值...
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